各项指标的控制图设置

可以为产品流程中的每个指标指定控制图设置。

控制图设置

这些控制图设置适用于该小节的每个站点,并覆盖每个站点的控制图设置。
  1. 进入页面 组成 并选择产品。然后选择产品的流程步骤。
  2. 打开流程步骤,进入该 过程汇总 章节。
  3. 选择 附加设置 访问每个小节的控制图设置。
注意

这些设置仅适用于该指标的控制图。要更改系统默认偏好设置,请访问 控制图偏好。

子组大小

输入一个值,作为所有数据样本的相同子组大小。

控制图

根据测量类型和子组大小选择对照图。
注意

控制图类型和子组规模在测量的每个站点必须相同。

连续控制图
连续控制图按时间顺序绘制连续测量过程数据,如长度或压力。连续控制图主要分为两类:用于子组收集数据的图表和用于单个测量的图表。
  • 当您使用 an I-MR 控制图 来监控过程的均值和变异时,您的连续数据是单个观测值,而不在子组中。
  • 使用 an Xbar-R 控制图 可在具有连续数据和 8 或更小的子组大小时监视过程的均值和变异。
  • 使用 an Xbar-S 控制图 可在具有连续数据和 9 个或更大的子组大小时监视过程的均值和变异。
  • 使用 I-MR-R/S 控制图 图表来监测您的流程平均值,以及当每个子组是不同部分或批次时,子组之间和内部的差异。
  • 使用 an EWMA 控制图 可检测过程均值中的小偏移,而不受 low 值和 high 值的影响。EWMA 控制图可以监视指数加权移动平均值,这些移动平均值可去除低值和高值所带来的影响。观测值可以是单个测量值,也可以是子组均值。
属性控制图
属性控制图绘制缺陷或缺陷。根据数据是否代表缺陷计数并遵循二项分布,或数据代表缺陷计数并遵循泊松分布来选择属性控制图。
  • 可使用 NP 控制图 监视缺陷品数量(每个产品项都划分为两个类别中的一类,例如成功或失败)。
  • 可使用 P 控制图 监视缺陷品比率(每个产品项都划分为两个类别中的一类,例如成功或失败)。
  • 使用 a Laney P' 控制图 (P' 发音为 P prime)可以监控过程产生的缺陷品的比例,并针对数据中的过度离散或欠离散进行调整。
  • 使用 a C 控制图 可监控每件商品的缺陷数,其中每件商品可以有多个缺陷。仅当子组大小相同时,才应使用 C 控制图。
  • 使用 a U 控制图 可监控每件商品的缺陷数,其中每件商品可以有多个缺陷。
  • 使用 Laney U' 控制图 (U'发音为U素数)来监测工艺的缺陷率,并调整数据中的过度或不足离散。
注意

如果有缺陷类型想在单独的控制图上监测,必须将其设置为缺陷测量。如果有多个缺陷类型,想同时监测,汇总在单一控制图上,必须将其设置为一个分组缺陷。有关更多信息,请转到 质量属性。

控制极限计算方法

控制极限是中心线上下的水平线,用于判断过程是否失控。控制上限和下限基于过程的随机变化。默认情况下,控制限制显示在中心线上下各3个标准差处。

控制限值由工艺参数计算。您可以选择使用估计的工艺参数,或输入已知历史值来计算中心线和控制限值。有关控制极限计算的更多信息,请访问 控制极限计算细节。
  • 使用近期数据进行计算
    如果没有已知的历史值,可以指定参数估计所需的数据量。
    观测值个数 / 子组数
    对于连续测度,指定观测数;默认是100个观测值。对于属性测度,指定子群的数量;默认为25个子组。

    利用更多数据估算工艺参数,可以获得更准确的控制极限。

  • 提供参数
    输入用于计算中心线和控制限制的参数 Real-Time SPC 历史值。如果没有已知参数,使用 使用近期观测值计算 或选项 使用近期子组计算 。
  • 不使用控制限
    可以隐藏任何控制图的控制限制。此设置会影响所有站点的控制图。数据仍然被绘制,但仅有测试2、测试3和测试4可用。

站点仪表盘显示

为了聚焦站点仪表盘的范围,工程师可以隐藏或显示每个指标的控制图。对于每个控制图,可以显示 在工作站仪表板上显示 所有图表,仅显示第一张图表,或不显示图表。

该设置仅影响站点仪表盘上的显示。所有选定控制图的图表都显示在 过程质量快照。

例如: 在站点仪表盘上显示所有图表

假设使用默认设置,当子群大小=1时。
  • 子组大小 = 1
  • 控制图 = I-MR图表
  • 控制限计算方法 = 利用近期观测计算
  • 观测值个数 = 100
  • 在工作站仪表板上显示 = 个人与移动区间图
所有数据均被收集并绘制在I-MR图表上以进行该指标。个人图表和移动区间图均显示在 过程质量快照 工作站 仪表盘上。

例如: 在站点仪表盘上隐藏变化表

假设想在仪表盘上显示个人图表,但不显示移动区间图表 工作站 。
  • 子组大小 = 1
  • 控制图 = I-MR图表
  • 控制限计算方法 = 利用近期观测计算
  • 观测值个数 = 100
  • 在工作站仪表板上显示 = 个人图表
所有数据均被收集并绘制在I-MR图表上以进行该指标。个人图表和移动区间图均显示在 过程质量快照,但仪表盘上仅显示 工作站 个人图表。

例如: 隐藏控制限制

假设只想显示I-MR图表的绘制点,而不显示控制限制,并在仪表盘上隐藏移动区间图 工作站 。
  • 子组大小 = 1
  • 控制图 = I-MR图表
  • 控制限计算方法 = 不使用控制极限
  • 观测值个数 = 100
  • 在工作站仪表板上显示 = 个人图表
所有数据均被收集并绘制在I-MR图表上以进行该指标。个人图表和移动区间图均显示在 过程质量快照,但仪表盘上仅显示 工作站 个人图表。图表中没有显示控制限制。

控制图测试

Real-Time SPC提供八种连续数据控制图特殊原因测试和四个属性数据控制图特殊原因测试。使用检验可以确定要调查的观测值,并确定您数据中的具体模式和趋势。默认情况下, Real-Time SPC 只使用测试1。请根据公司或行业标准选择其他检验。

注意

要了解测试选项或更改所有控制图的测试偏好,请访问 控制图偏好。