하위 그룹의 개별 관찰 결과에 할당 가능한 원인, 시정 조치, 코멘트를 추가할 수 있습니다.
공정 품질 스냅샷 또는 스테이션 대시보드의 제어 차트에서 점을 두 번 클릭하여 세부 정보 창을 엽니다.
표시된 점이나 각 개별 관측값에 대해 편집을 선택합니다.
관련 할당 가능한 원인, 시정 조치, 코멘트를 입력한 후 확인을 선택합니다.
스테이션 대시보드에서 점 주석 표시기를 표시하거나 숨기려면 설정을 열고 점 주석 표시을 선택하거나 선택 해제합니다.
제어 차트에 디스크립터 마커를 추가합니다
통제 차트에서 하위 그룹 디스크립터를 식별하는 마커를 추가할 수 있습니다.
페이지로 구성 요소 가서 제품을 선택합니다. 그 다음 제품의 공정 흐름 단계를 선택합니다.
프로세스 단계를 열고 이 제품과 프로세스에서 제공되는 범주별 기술자에 접근할 수 있는 섹션으로 디스크립터 이동합니다.
이 제품과 프로세스에 디스크립터 변수를 추가 제품 하기 위해 타이핑을 시작합니다. 기본적으로 글로벌 디스크립터가 추가되었습니다.
스테이션 대시보드의 제어도에 표시되는 최대 5개의 하위 그룹 디스크립터를 마커 추가에서 선택합니다.
변경 사항을 저장합니다.
로트 번호 와 시프트 식별 자 하위 그룹 기술자에는 마커가 있습니다.
참고
공정 품질 스냅샷의 제어 차트에 마커를 표시하려면 제어 차트의 마커 추가 드롭다운 메뉴에서 디스크립터를 선택합니다. 디스크립터에 대한 자세한 내용은 디스크립터 추가을 참조하십시오.
스테이션 대시보드에서 제어 차트 표시를 숨기기
엔지니어는 스테이션 대시보드에서 측정값별로 제어 차트를 숨길 수 있습니다. 이 설정은 제품의 공정 단계에 있는 구성 요소 페이지에 있습니다. 각 제어 차트마다 모든 차트, 첫 번째 차트만 또는 차트 없음을 표시할 수 있습니다. 자세한 내용은 각 측정치별 제어 차트 설정로 이동한 후 스테이션 대시보드에 표시를 선택합니다.
이 설정은 스테이션 대시보드의 표시만 영향을 줍니다. 선택한 제어 차트의 모든 차트는 공정 품질 스냅샷에 표시됩니다.
그래프 작성된 점들의 실패한 테스트 표시
표시된 점의 테스트 번호를 표시하거나 숨기려면 설정을 스테이션 대시보드에서 열고 실패한 검정 표시을 선택하거나 선택 해제합니다. 기본 테스트 설정을 변경하는 방법에 대한 자세한 내용은 특수 원인 검정을 참조하십시오.
참고
실패한 테스트 번호는 항상 공정 품질 스냅샷에 표시됩니다.
추가 표시 제한을 지정합니다
제어 차트는 제어 한계를 사용하지 않도록 설정하지 않는 한 항상 제어 한계를 표시합니다. 자세한 내용은 스테이션 대시보드 표시을 참조하십시오.
스테이션 대시보드의 제어 차트에서 액션 한계와 명세 한계를 표시하거나 숨길지 선택할 수 있습니다. 지정된 한계는 항상 공정 품질 스냅샷에 표시됩니다.
액션 한계와 명세 한계를 표시하거나 숨기려면 설정을 스테이션 대시보드에서 열고 모든 규격 제한 표시을 선택하거나 선택 해제합니다.
참고
명세 제한은 연속 측정값과 속성 측도의 하위 그룹에 대한 개별 관측에만 적용됩니다. 따라서 명세 한계는 I-MR 차트와 속성 차트에서만 표시할 수 있습니다.
x축 라벨을 지정합니다
기본적으로 x축은 관측의 날짜와 시간을 표시합니다. 다른 방법은 순차적인 하위 그룹 식별자(인덱스 값)를 x축에 표시하는 것입니다.
공정 품질 스냅샷
아이콘을 선택한 다음 고급 옵션를 선택하고 인덱스 또는 날짜/시간를 선택합니다. x축 라벨은 스테이션 내 모든 제어 차트에 적용됩니다.
스테이션 대시보드
설정을 열고 날짜/시간 표시을 선택하거나 선택 해제하여 타임스탬프 또는 인덱스 값을 표시합니다.
을 열고 점 주석 표시을 선택하거나 선택 해제합니다.
아이콘을 선택한 다음 고급 옵션를 선택하고 인덱스 또는 날짜/시간를 선택합니다. x축 라벨은 스테이션 내 모든 제어 차트에 적용됩니다.