유형 1 Gage 연구에 대한 방법 및 공식

원하는 방법 또는 공식을 선택하십시오.

기준 값

기준 값 Xm은 연구에서 비교 점으로 사용됩니다. 일반적으로, 실험실용으로 눈금이 조정된 측정 장비를 사용하여 측정된 여러 측정값의 평균이 기준 값으로 사용됩니다.

이상적으로 Xm은 측정하는 특성에 대한 공차 구역의 중심에 가깝습니다.

평균

부품 측정값의 평균은 다음 공식에 의해 계산됩니다.

표기법

용어설명
Xii번째 부품의 측정값
n측정값의 개수

표준 편차

부품 측정값의 표준 편차는 다음 공식에 의해 계산됩니다.

표기법

용어설명
n개 측정값의 평균
Xii번째 부품의 측정값
n측정값의 개수

연구 변동(SV)

연구 변동은 다음 공식에 의해 계산됩니다.

표기법

용어설명
k1

Minitab에서는 표준 정규 분포의 6 표준 편차(기본값)를 사용하여 측정값의 99.73%를 나타냅니다.

이 값을 변경하려면 옵션 하위 대화 상자를 표시합니다. 예를 들어, 측정값의 99%를 나타내려면 승수 5.15를 사용합니다.

S측정값의 표준 편차

공차

공차는 각 성분에 대해 지정됩니다. 공차 또는 규격 한계 중 하나를 입력해야 합니다.

공차 = USL – LSL 또는 USL – 0(LSL이 0으로 대치되는 경우)입니다.

표기법

용어설명
규격 상한규격 상한
규격 하한규격 하한

해는 지정된 Gage 해입니다.

해에 대한 지침은 해가 공차의 5%보다 크지 않아야 한다는 것입니다. 따라서 해와 공차를 모두 지정한 경우 해가 공차의 5%보다 작거나 같은지 또는 큰지 여부를 계산합니다.

치우침

Gage 치우침은 n개 측정값의 평균과 기준 값의 부품 간의 차이에 의해 계산됩니다.

표기법

용어설명
n개 측정값의 평균
Xm기준 측정값

T

치우침 = 0이라는 귀무 가설 및 치우침 ≠ 0이라는 대립 가설을 검정하기 위한 t-통계량.

t 통계량은 자유도가 γ인 t-분포를 따릅니다. 여기서 γ = n – 1입니다.

표기법

용어설명
n측정값의 개수
n개 측정값의 평균
Xm기준 측정값
S측정값의 표준 편차

p-값

p-값은 t-통계량과 연관됩니다. p-값은 치우침이 0이라는 가정 하에 계산된 값보다 크거나 같은 t-통계량을 얻을 확률입니다. t-통계량이 증가하면 p-값이 감소합니다. p-값이 작을수록 치우침 = 0이라는 귀무 가설을 기각할 수 있는 증거가 많아집니다.

Cg

공정 능력 지수는 Gage 공차가 지정된 경우에만 계산됩니다. Gage의 공정 능력은 다음 공식으로 계산됩니다.

표기법

용어설명
K옵션 하위 대화 상자에 지정된 Cg를 계산하기 위한 공차의 백분율(기본값 = 20)
SV연구 변동

CgK

공정 능력 지수는 Gage 공차가 지정된 경우에만 계산됩니다. Gage의 공정 능력은 Gage 변동과 치우침을 모두 고려하여 다음 공식으로 계산됩니다.

표기법

용어설명
K옵션 하위 대화 상자에 지정된 Cg를 계산하기 위한 공차의 백분율(기본값 = 20)
n개 측정값의 평균
Xm기준 측정값
SV연구 변동

%Var(반복성)

반복성에 대한 %Var(반복성)는 Gage 반복성을 공차와 비교합니다. %Var는 연구 변동을 공차로 나눈 다음 100을 곱하여 계산합니다.

표기법

용어설명
K옵션 하위 대화 상자에 지정된 Cg를 계산하기 위한 공차의 백분율(기본값 = 20)
SV연구 변동

%Var(반복성 및 치우침)

반복성 및 치우침에 대한 %Var(반복성)는 Gage 반복성과 치우침을 공차와 비교합니다.

표기법

용어설명
K옵션 하위 대화 상자에 지정된 Cg를 계산하기 위한 공차의 백분율(기본값 = 20)
n개 측정값의 평균
Xm기준 측정값
SV연구 변동
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