观测到的过程变异可以分为两个来源：
- 部件间变异
- 由于测量不同的部件而产生的变异性。理想情况下，部件间的差异（部件间）应可以解释大部分变异。
- 测量系统变异
- 测量系统变异是与测量过程相关联的所有变异。变异的可能来源包括量具、标准、过程、软件、环境因素等等。
与任何其他过程一样，测量系统既有常见原因的变异，也有特殊原因的变异。要控制测量系统变异，必须首先识别变异的来源，然后必须排除或减少这些多种多样的原因。测量系统变异可以分为两个来源：
- 重复性
- 重复性是因测量设备导致的变异。它是同一操作员 使用相同量具在同一条件下，对同一部件进行多次测量时实测获得的变异。
- 再现性
- 再现性是因测量系统导致的变异。它是不同操作员 使用同一量具在相同条件下，对同一部件进行多次测量时实测获得的变异。
- 再现性可以分为两个来源：
- 操作员：由于不同操作员所引起的测量变异性。
- 操作员与部件：考虑了单独的部件和操作员因素之后，由于不同的操作员/部件组合所引起的变异性。