关于本主题
Cp（组间/组内）
- 规格散布 (USL– LSL)
- 过程基于组间/组内标准差的散布（6-σ 变异）
解释
可使用 Cp 评估您过程的组内/组间能力。组间/组内能力表示在消除导致子组间/内变异以及整体过程变异的系统根源后，您的过程能够实现的能力。
由于 Cp 不考虑过程的位置，因此它表明在过程处于中心位置的情况下过程可以获得的能力。总体上讲，Cp 值越高，过程的能力越大。Cp 值低，表明需要改进过程。
低 Cp
在此例中，规格展开小于整体过程展开。因此，Cp 值低 (0.40)，并且过程的能力差（根据它的变异）。
高 Cp
在此例中，规格展开显著大于整体过程展开。因此，Cp 值高 (1.80)，并且整体过程能力高（根据它的变异）。
-
将 Cp 与基准值进行比较以评估过程的潜在能力。 许多行业都使用基准值 1.33。如果 Cp 比基准值低，则考虑如何通过减少过程变异来改进过程。
- 比较 Cp 和 Pp。如果 Pp 比 Cp 大得多，则除子组之间/之内的变异外，过程中可能存在其他系统性变异源。
-
比较 Cp 和 Cpk。如果 Cp 和 Cpk 大致相等，则过程位于两个规格限制之间的中心位置。如果 Cp 和 Cpk 不同，则过程不位于中心位置。
警告
由于 CP 指数不考虑过程的位置，它并不表示过程与规格限所限定的目标区域的接近程度。例如，以下图形显示了两个具有相同 Cp 值的过程，但其中一个过程在规格限内，而另一个则没有。
Cp = 3.13
Cp = 3.13
要进行完整的准确分析，请结合其他能力指数（如 Cpk）使用这些图形，以便根据数据得出有意义的结论。
CPL（组间/组内）
- 过程均值与规格下限 (LSL) 的距离
- 过程基于组间/组内标准差的单侧散布（3-σ 变异）
解释
可使用 CPL 相对于规格下限评估过程的组内/组间能力。组间/组内功能表示在消除导致子组间/内变异以及过程变异的系统根源后，您的过程能够实现的功能。
总体上讲，CPL 值越高，表示过程在其分布下侧尾部的能力越高。Cpk 值低表明可能需要改进过程。
低 CPL
在此例中，过程均值到规格下限 (LSL) 的距离小于单侧过程展开。因此，CPL 值 (0.66) 低，并且过程的组间/组内能力差（相对于其规格下限）。
高 CPL
在此例中，过程均值到规格下限 (LSL) 的距离大于单侧过程展开。因此，CPL 值 (1.68) 高，并且过程的组间/组内能力良好（相对于其规格下限）。
-
将 CPL 与基准值进行比较以评估过程的潜在能力。许多行业都使用基准值 1.33。如果 CPL 低于基准值，则考虑如何改进您的过程，例如减少其变异或改变其位置。
-
如果您同时具有规格下限和规格上限，则将 CPL 与 CPU 进行比较。如果 CPL 不近似地等于 CPU，则过程不在中心位置。
CPL = 0.92，CPU = 4.37
当 CPL < CPU 时，过程产生违反规格下限的缺陷单元的可能性更大。
CPL = 4.37，CPU = 0.92
当 CPU < CPL 时，过程产生违反规格上限的缺陷单元的可能性更大。
CPU（组间/组内）
- 过程均值到规格上限 (USL) 的距离
- 过程基于组间/组内标准差的单侧散布（3-σ 变异）
解释
低 CPU
在此例中，过程均值到规格上限 (USL) 的距离小于单侧过程展开。因此，CPU 值 (0.66) 低，并且过程的组间/组内能力差（相对于其规格上限）。
高 CPU
在此例中，过程均值到规格上限 (USL) 的距离显著大于单侧过程展开。因此，CPU 值 (2.76) 高，并且过程的组间/组内能力良好（相对于其规格上限）。
-
将 CPU 与基准值进行比较以评估过程的潜在能力。 许多行业都使用基准值 1.33。如果 CPU 低于基准值，则考虑如何改进您的过程，例如减少其变异或改变其位置。
-
如果您同时具有规格下限和规格上限，则将 CPL 与 CPU 进行比较。如果 CPL 不近似地等于 CPU，则过程不在中心位置。
CPL = 0.92，CPU = 4.37
当 CPL < CPU 时，过程产生违反规格下限的缺陷单元的可能性更大。
CPL = 4.37，CPU = 0.92
当 CPU < CPL 时，过程产生违反规格上限的缺陷单元的可能性更大。
CPK（组间/组内）
- 过程均值到最近规格限（USL 或 LSL）的距离
- 过程基于组间/组内标准差的单侧散布（3-σ 变异）
解释
使用 CPK 评估组间/组内能力，同时考虑其位置和展开。组间/组内能力表示在消除导致子组间/内变异以及整体过程变异的系统根源后，您的过程能够实现的能力。
总体上讲，Cpk 值越高，过程的能力越高。Cpk 值低表明可能需要改进过程。
低 CPK
在此示例中，从过程均值到最接近的规格限的距离小于单侧过程展开。因此，CPK 值低 (0.66)，并且过程的组间/组内能力较差。
高 CPK
在此示例中，从过程均值到最接近的规格限的距离大于单侧过程展开。因此，CPK 值高 (1.68)，并且过程的组间/组内能力较好。
-
将 Cpk 与基准值（代表过程可接受的最小值）进行比较。许多行业都使用基准值 1.33。如果 Cpk 比基准值低，则考虑如何改进您的过程，例如减少其变异或改变其位置。
- 比较 CPK 和 PPK。如果 CPK 比 PPK 大得多，则除子组间/内变异外，过程中可能存在其他系统性变异源。例如，工具磨损是一个系统性变异源，可能导致制造过程的组间/组内能力 (CPK) 高于整体能力 (PPK)。
-
比较 Cp 和 Cpk。如果 Cp 和 Cpk 大致相等，则过程位于两个规格限制之间的中心位置。如果 Cp 和 Cpk 不同，则过程不位于中心位置。
警告
Cpk 指数只表示过程曲线的一侧，而不度量过程曲线另一侧的过程执行情况。
例如，下面几个图形显示两个具有相同 Cpk 值的过程。但是，一个过程同时违反了两个规格限，另一个过程只违反了规格下限。
Cpk = min {CPL = 4.58, CPU = .93} = .93
Cpk = CPL = CPU = .93
如果过程中具有同时超出两个规格限的不合格部件，可考虑使用其他指数（如基准 Z 值），以便更加完整地评估过程的能力。
能力指数的置信区间 (CI)、下限 (LB)、上限 (UB)
置信区间是能力指数的可能值范围。置信区间由置信下限和置信上限定义。边界是通过确定样本估计值的边际误差来计算的。置信下限定义可能小于能力指数值的值。置信上限定义可能大于能力指数值的值。
注意
要显示置信区间，必须单击选项并在执行能力分析时选择包括置信区间。Minitab 对于 Cp、Pp、Cpk、Ppk、Cpm 和基准 Z 值显示置信区间或置信边界。
解释
由于数据样本是随机的，因此从过程收集的不同样本不可能生成相同的能力指数估计值。要计算过程能力指数的实际值，您将需要分析由过程生成的所有项数据，而这是不可行的。您可以改为使用置信区间来确定能力指数值的可能范围。
在 95% 置信水平下，您可以 95% 地确信能力指数的实际值包含在置信区间内。也就是说，如果您从过程中收集 100 个随机样本，则可以预计 95 个样本生成的区间中包含能力指数的实际值。
置信区间有助于评估样本估计值的实际意义。如果可能，基于过程知识或行业标准将置信界限与基准值进行比较。
例如，一家公司对 Ppk 使用最低基准值 1.33 定义有能力的过程。通过使用能力分析，该公司获得 Ppk 估计值 1.46，这表明该过程有能力。要进一步评估此估计值，该公司显示 Ppk 的 95％ 置信下限。如果 95％ 置信下限大于 1.33，则该公司可以非常自信地认为该过程有能力，即使考虑到将影响估计值的随机抽样变异也是如此。
组间/组内能力的 Z.LSL
Z.LSL（组间/组内）是过程均值和规格下限 (LSL) 之间的标准差倍数。它是基于组间/组内过程性能通过使用子组间/子组内标准差计算的。
注意
要显示基准 Z 值度量，您必须在执行能力分析时单击 选项 并将能力统计量的默认输出更改为基准 Z 值。
解释
可使用 Z.LSL（组间/组内）评估过程相对于其规格下限的组间/组内西格玛能力。
总体上讲，Z.LSL 值越高，表示过程在其分布下侧尾部的能力越高。值低表明可能需要改进过程。如果可能，基于过程知识或行业标准将 Z.LSL 值（组间/组内）与基准值进行比较。如果 Z.LSL 值低于您的基准值，则考虑如何改进过程。
组间/组内能力的 Z.USL
Z.USL（组间/组内）是过程均值和规格上限 (USL) 之间的标准差倍数。它是基于组间/组内过程性能通过使用子组间/子组内标准差计算的。
注意
要显示基准 Z 值度量，您必须在执行能力分析时单击 选项 并将能力统计量的默认输出更改为基准 Z 值。
解释
可使用 Z.USL（组间/组内）评估过程相对于其规格上限的组间/组内西格玛能力。
总体上讲，Z.USL 值越高，表示过程在其分布上侧尾部的能力越高。值低表明可能需要改进过程。如果可能，基于过程知识或行业标准将 Z.USL 值（组间/组内）与基准值进行比较。如果 Z.USL 值低于您的基准值，则考虑如何改进过程。
组间/组内能力的基准 Z 值
基准 Z 值（组间/组内）是标准正态分布（用于将估计的过程中缺陷品率转换为上侧尾部概率）的百分位数。它是基于组间/组内过程性能通过使用组间/组内标准差计算的。
过程的缺陷落在两个规格限上。子组间/子组内的标准差由刻度标记显示。
如果您将所有缺陷都放在分布的右尾上，然后测量从中心（红线）到定义了总缺陷的点的子组间/子组内标准差数，您就会得到基准 Z（子组间/子组内）值。
注意
要显示基准 Z 值，您必须在执行能力分析时单击 选项 并将能力统计量的默认输出更改为基准 Z 值。
解释
可使用基准 Z 值（组间/组内）评估过程的组间/组内西格玛能力。
总体上讲，基准 Z 值（组间/组内）越高，过程的能力越高。值低表明可能需要改进过程。如果可能，基于过程知识或行业标准将基准 Z 值（组间/组内）与基准值进行比较。如果基准 Z 值（组间/组内）低于您的基准值，则考虑如何改进过程。