组间/组内能力分析 的预期组间/组内 (B/W) 性能

对于随组间/组内能力分析提供的每个预期组间/组内性能度量,查找定义和解释指导。

预期组内/组间性能的 PPM < LSL

针对预期组间/组内性能的 PPM < LSL 是其测量值低于规格下限 (LSL) 的部件的预期百万分数。预期组间/组内性能值是通过使用组间/组内变异计算的。针对预期组内性能的 PPM < LSL 等于 1,000,000 乘以从子组间/组内过程分布中随机选择的部件的测量值小于 LSL 的几率。

随机选择的部件小于 LSL 的几率由组间/组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组间/组内性能的“PPM < LSL”来估计基于子组间/组内变异预期低于规格下限的不合格品的数目(以百万分数表示)。组间/组内性能值表示在消除导致系统性变异(除子组内和子组间变异外)的其他来源后可实现的过程性能。

较低的 PPM < LSL 值表示更高的过程能力(相对于规格下限)。在理想情况下,很少或无任何部件具有小于规格下限的测量值。

预期组内/组间性能的 PPM > USL

针对预期组间/组内性能的 PPM > USL 是其测量值高于规格上限 (USL) 的部件的预期百万分数。预期组间/组内性能值是通过使用组间/组内变异计算的。针对预期组内性能的 PPM > USL 1,000,000 乘以从子组间/组内过程分布中随机选择的部件的测量值高于 USL 的几率。

随机选择的部件高于 USL 的几率由组间/组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组间/组内性能的“PPM > USL”来基于子组间/子组内变异估计预期高于规格上限的不合格品的数目(以百万分数表示)。组间/组内性能值表示在消除导致系统性变异(除子组内和子组间变异外)的其他来源后可实现的过程性能。

较低的 PPM > USL 值表示较高的过程能力(相对于规格上限)。在理想情况下,很少或无任何部件具有大于规格上限的测量值。

预期“组间/组内”性能的合计 PPM

针对预期组间/组内性能的合计 PPM 是其测量值超出规格限的部件的预期百万分数。预期组间/组内性能值是通过使用组间/组内变异计算的。针对预期组间/组内性能的合计 PPM 等于 1,000,000 乘以从子组内过程分布中随机选择的部件的测量值超出规格限的几率。

随机选择的部件超出规格限的几率由组间/组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组间/组内性能的“合计 PPM”来估计基于子组间/组内变异预期处于规格限外的不合格品的数目(以百万分数表示)。组间/组内性能值表示在消除导致系统性变异(除子组内和子组间变异外)的其他来源后可实现的过程性能。

较低的合计 PPM 值表示更高的过程能力。在理想情况下,很少或无任何部件具有位于规格限外的测量值。

您还可以使用 PPM 来估计过程中的合格部件和不合格部件的百分比。
PPM 不合格部件 % 合格部件 %
66807 6.807% 93.193%
6210 0.621% 99.379%
233 0.0233% 99.9767%
3.4 0.00034% 99.99966%

预期子组内/子组间性能的 % < LSL

针对预期组间/组内性能的 % < LSL 是其测量值低于规格下限 (LSL) 的部件的预期百分比。预期组间/组内性能值是通过使用组间/组内变异计算的。针对预期组内性能的 % < LSL 是从子组间/内过程分布中随机选择的部件的测量值小于 LSL 的几率。

随机选择的部件小于 LSL 的几率由组间/组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组间/组内性能的“% < LSL”来基于子组间/子组内变异估计预期低于规格下限的不合格品的百分比。组间/组内性能值表示在消除导致系统性变异(除子组内和子组间变异外)的其他来源后可实现的过程性能。

较低的 % < LSL 值表示更高的过程能力(相对于规格下限)。在理想情况下,很少或无任何部件具有小于规格下限的测量值。

预期组内/组间性能的 % > USL

针对预期组间/组内性能的 % > USL 是其测量值高于规格上限 (USL) 的部件的预期百分比。预期组间/组内性能值是通过使用组间/组内变异计算的。针对预期组内性能的% > USL 是从组间/组内过程分布中随机选择的部件的测量值高于 USL 的几率。

随机选择的部件高于 USL 的几率由组间/组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组间/组内性能的“% > USL”来基于子组间/子组内变异估计预期高于规格上限的不合格品的百分比。组间/组内性能值表示在消除导致系统性变异(除子组内和子组间变异外)的其他来源后可实现的过程性能。

较低的 % > USL 值表示较高的过程能力(相对于规格上限)。在理想情况下,很少或无任何部件具有大于规格上限的测量值。

预期组间/组内性能的合计 %

针对预期组间/组内性能的合计 % 是其测量值超出规格限的预期百分比。预期组间/组内性能值是通过使用组间/组内变异计算的。针对预期组间/组内性能的合计 % 是从组间/组内过程分布中随机选择的部件的测量值超出规格限的几率。

随机选择的部件超出规格限的几率由组间/组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组间/组内性能的“合计 %”来估计基于子组间/组内变异预期处于规格限外的不合格品的百分比。组间/组内性能值表示在消除导致系统性变异(除子组内和子组间变异外)的其他来源后可实现的过程性能。

较低的合计 % 值表示较高的过程能力。在理想情况下,很少或无任何部件具有位于规格限外的测量值。

组间/组内能力的 Z.LSL

Z.LSL(组间/组内)是介于过程均值和规格下限 (LSL) 的标准差数目。它是基于组间/组内过程性能通过使用子组间/内标准差计算的。

注意

要显示基准 Z 值度量,您必须在执行能力分析时单击 选项 并将能力统计量的默认输出更改为基准 Z 值。

解释

可使用 Z.LSL(组间/组内)评估过程的相对于其规格下限的组间/组内西格玛能力。

总体上讲,Z.LSL 值越高,表示过程在其分布下侧尾部的能力越高。Z.LSL 值低表明可能需要改进过程。如果可能,基于过程知识或行业标准将 Z.LSL 值(组间/组内)与基准值进行比较。如果 Z.LSL 值低于您的基准值,则考虑如何改进过程。

组间/组内能力的 Z.USL

Z.USL(组间/组内)是介于过程均值和规格上限 (USL) 的标准差数目。它是基于组间/组内过程性能通过使用子组间/内标准差计算的。

注意

要显示基准 Z 值度量,您必须在执行能力分析时单击 选项 并将能力统计量的默认输出更改为基准 Z 值。

解释

可使用 Z.USL(组间/组内)评估过程的相对于其规格上限的组间/组内西格玛能力。

总体上讲,Z.USL 值越高,表示过程在其分布上侧尾部的能力越高。Z.USL 值低表明可能需要改进过程。如果可能,基于过程知识或行业标准将 Z.USL 值(组间/组内)与基准值进行比较。如果 Z.USL 值低于您的基准值,则考虑如何改进过程。

组间/组内能力的基准 Z 值

基准 Z 值(组间/组内)是标准正常分布(用于将估计的过程中缺陷品率转换为上侧尾部概率)的百分位数。它是基于潜在(组间/组内)过程性能通过使用子组间/内标准差计算的。

过程的缺陷落在两个规格限上。子组间/子组内的标准差由刻度标记显示。

如果您将所有缺陷都放在分布的右尾上,然后测量从中心(红线)到定义了总缺陷的点的子组间/子组内标准差数,您就会得到基准 Z(子组间/子组内)值。

注意

要显示基准 Z 值,您必须在执行能力分析时单击 选项 并将能力统计量的默认输出更改为基准 Z 值。

解释

可使用基准 Z 值(组间/组内)评估过程的组间/组内西格玛能力。

总体上讲,基准 Z 值越高,过程的能力越高。基准 Z 值低表明可能需要改进过程。如果可能,基于过程知识或行业标准将基准 Z 值(组间/组内)与基准值进行比较。如果基准 Z 值(组间/组内)低于您的基准值,则考虑如何改进过程。

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