加速寿命检验的解释汇总

加速寿命检验通过一个预测变量执行回归,该预测变量用于在极端应力水平下对失效次数建模,并推断回正常使用条件。回归中的预测变量是一个加速变量;其水平通常比现场中的变量的水平更极端。使用工程知识找到一个模型,在更极端的应力水平条件下进行估计时,该模型可用于推断回正常使用条件。

加速寿命检验包括下列输出:
  • 回归表,描述预测失效时间的模型。
  • 拟合优度度量,可帮助评估不同模型的拟合值。
  • 百分位数表和生存概率表以及关系图,可帮助评估产品的可靠性。
  • 残差的概率图,可帮助评估模型假设是否合适。

数据说明

有些电流会在电子设备中的晶体管之间泄漏。如果漏电情况达到特定阈值,则设备将发生短路。随着温度的升高,漏电情况会加剧。制造商检验电子设备,以估计在设计温度 55° C 下的 B5 寿命,以及在最坏情况 85° C 下的 B5 寿命。

由于这些设备在正常操作条件下可使用几年,因此使这些设备运行直到失效是没有实际意义的检验方法。为了加快设备失效速度,制造商在比正常温度高得多的温度下检验设备。当漏电情况达到指定的阈值时,设备将失效。每两天检查一次设备的失效情况。

制造商选择使用具有 Arrhenius 变换的 Weibull 分布对数据进行模拟。

数据:漏电.MTW

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