Exemplo de Plano de teste de vida acelerado

Um engenheiro testa capacitores a temperaturas aceleradas de 85, 105 e 125 graus para determinar a confiabilidade durante 1000 horas em condições de utilização normal, de 45 graus. Há 100 capacitores disponíveis para teste. O engenheiro utiliza as informações a seguir para os planos de teste.
  • Os tempos de falha tendem a seguir uma distribuição exponencial.
  • A relação de Arrhenius com um intercepto de -8,0 e inclinação de 0,5 modela adequadamente a relação entre o tempo de falha de log e a temperatura.
  1. Selecione Estat > Confiabilidade/Sobrevivência > Planos de Teste > Teste de Vida Acelerado.
  2. Em Parâmetro a ser Estimado, selecione Tempo de confiabilidade e insira 1000.
  3. Em Tamanhos amostrais ou precisões como distâncias do limite de IC para estimar, selecione Tamanho amostral e insira 100.
  4. Exemplo Distribuição, select Exponencial. From Relação, selecione Arrhenius.
  5. Em Especificar valores de planejamento para dois dos itens a seguir, em Intercepto, insira -8. Em Inclinação, insira 0,5.
  6. Clique em Estresses.
  7. Em Estresse do experimento, insira 45. Em Estresses de teste, insira 85 105 125.
  8. Clique em OK em cada caixa de diálogo.

Interpretar os resultados

O Minitab avalia os planos de teste resultantes e exibe os melhores planos no sentido de minimizar a precisão ou o tamanho amostral. Se o tamanho amostral for especificado, o primeiro Melhor Plano de Teste de Alocações "Ideais" é o plano com o menor erro padrão do parâmetro de interesse.

Para estimar a confiabilidade de 1.000 horas no estresse do projeto de 45 graus usando o plano ideal, o engenheiro deve testar o seguinte número de unidades a cada temperatura acelerada:
  • Teste 63 unidades a 85 graus; espera-se que todas as 63 falhem
  • Teste 4 unidades a 105 graus; espera-se que todas as 4 falhem
  • Teste 33 unidades a 125 graus; espera-se que todas as 33 falhem

Como o erro padrão para todos os três planos está muito próximo, o engenheiro também deve considerar critérios adicionais ao escolher um plano de alocações, como qual planta produz mais falhas ou é a que tem execução menos cara.

Teste dos Planos de Testes de Vida Acelerados

Planejando a Distribuição Distribuição Intercepto Inclinação Exponencial -8 0,5
Dados não-censurados Modelo de Arrhenius Parâmetro estimado: Confiabilidade no tempo = 1000 Estimativa de planejamento calculada = 0,964857 Valor de estresse do experimento = 45

Planos de teste selecionados: Planos de teste de alocações “Ideal”

Total de unidades amostrais disponíveis = 100

1º Melhor Plano de Teste de Alocações “Ideal” Estresse Percentual Aloc Unidades Falhas do Teste de Falha Percentual Amostrais Esperadas 85 100 63,3333 63 63 105 100 3,9583 4 4 125 100 32,7083 33 33 Erro padrão do parâmetro de interesse = 0,0123437
2º Melhor Plano de Teste de Alocações “Ideal” Estresse Percentual Aloc Unidades Falhas do Teste de Falha Percentual Amostrais Esperadas 85 100 68,3333 68 68 105 100 3,9583 4 4 125 100 27,7083 28 28 Erro padrão do parâmetro de interesse = 0,0124673
3º Melhor Plano de Teste de Alocações “Ideal” Estresse Percentual Aloc Unidades Falhas do Teste de Falha Percentual Amostrais Esperadas 85 100 58,3333 58 58 105 100 8,9583 9 9 125 100 32,7083 33 33 Erro padrão do parâmetro de interesse = 0,0126711
Ao usar esse site, você concorda com a utilização de cookies para análises e conteúdo personalizado.  Leia nossa política