계수형 Gage 연구(분석적 방법)의 예

한 제조 엔지니어가 볼트를 합격 또는 기각하는 데 사용되는 자동 합격/불합격 측정 시스템을 평가하려고 합니다. 이 엔지니어는 알려진 기준 값의 부품 10개를 선택하고 합격/불합격 Gage를 통해 각 부품을 20번 측정합니다. 해당 엔지니어는 각 부품의 합격 횟수를 기록합니다.

엔지니어는 계수형 Gage 연구를 사용하여 측정 시스템의 치우침과 반복성을 평가하고, 측정 시스템을 개선해야 하는지 여부를 결정합니다.

이 시스템의 공차 하한은 -0.020이며 공차 상한은 0.020입니다.

  1. 표본 데이터 자동차볼트.MTW를 엽니다.
  2. 통계분석 > 품질 도구 > Gage 연구 > 계수형 Gage 연구(분석적 방법)를 선택합니다.
  3. 시료 번호부품 번호를 입력합니다.
  4. 기준 값기준를 입력합니다.
  5. 이항 속성 아래에서 요약 카운트를 선택하고 합격를 입력합니다.
  6. 시행 횟수20을 입력합니다.
  7. 속성 레이블에 기본 레이블 "힙격"을 남겨둡니다.
  8. 계산 공차 한계 아래에서 하한를 선택하고 -0.020을 입력합니다.
  9. 확인를 클릭합니다.

결과 해석

치우침 검정에 대한 귀무 가설은 치우침 = 0이라는 것입니다. p-값이 유의 수준 0.05보다 작기 때문에 귀무 가설을 기각하고 계수형 측정 시스템에 치우침이 있다는 결론을 내립니다.

계수형 Gage 시스템의 치우침은 0.0097955입니다. 엔지니어는 치우침을 줄이기 위해 Gage를 수리하거나 Gage의 눈금을 다시 조정해야 합니다.

이 사이트를 사용하면 분석 및 사용자 개인 컨텐츠에 대한 쿠키 사용에 동의하는 것입니다.  당사의 개인정보 보호정책을 확인하십시오