반응 표면 설계를 위한 이항 반응 분석 개요

데이터의 곡면성을 모형화하고 이항 반응을 최적화하는 요인 설정을 식별하려면 반응 표면 설계를 위한 이항 반응 분석을 사용합니다. 일반적으로 요인 또는 부분 요인 실험을 수행하고 공정에서 가장 중요한 요인을 식별한 후 반응 표면 설계를 사용합니다. 자세한 내용은 반응 표면 설계, 중심 합성 계획법 설계 및 Box-Behnken 설계의 정의에서 확인하십시오.

데이터를 분석하려면 먼저 반응 표면 설계 생성(중심 합성 계획법), 반응 표면 설계 생성(Box-Behnken) 또는 사용자 반응 표면 설계 정의를 사용하여 설계를 입력하거나 정의해야 합니다. 워크시트에 반응 데이터도 있어야 합니다. 반응 데이터는 워크시트에서 두 개의 열로 구성되어야 합니다. 한 열에는 성공 또는 관심의 대상이 되는 사건의 횟수가 포함되고 또 한 열에는 시행 횟수가 포함됩니다.

예를 들어, 한 엔지니어가 사출 성형 공정에서 생산된 플라스틱 부품의 정성적 속성을 분석하려고 합니다. 마찰 요인 설계를 수행하여 중요한 요인(온도, 압력, 냉각 속도)을 식별한 후 엔지니어는 반응 표면 설계를 사용하여 데이터의 곡면성을 분석하고 최선의 요인 설정을 찾습니다.

설계를 분석한 후 Minitab에서 다음과 같은 작업을 수행할 수 있도록 모형을 저장합니다.
  • 여러 요인 설정에 대한 반응 예측.
  • 요인과 반응 간의 관계를 그림으로 표시.
  • 하나 이상의 반응을 최적화하는 설정 찾기.

이 분석의 위치

통계분석 > 실험계획법 > 반응 표면 설계 > 이항 반응 분석

대체 분석 사용 시기

계량형 반응 변수가 있으면 반응 표면 설계 분석을 사용하십시오.

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