계수형 Gage 연구(분석적 방법)의 예

한 제조 엔지니어가 볼트를 합격 또는 기각하는 데 사용되는 자동 합격/불합격 측정 시스템을 평가하려고 합니다. 이 엔지니어는 알려진 기준 값의 부품 10개를 선택하고 합격/불합격 Gage를 통해 각 부품을 20번 측정합니다. 해당 엔지니어는 각 부품의 합격 횟수를 기록합니다.

엔지니어는 계수형 Gage 연구를 사용하여 측정 시스템의 치우침과 반복성을 평가하고, 측정 시스템을 개선해야 하는지 여부를 결정합니다.

이 시스템의 공차 하한은 -0.020이며 공차 상한은 0.020입니다.

  1. 표본 데이터 를 엽니다.
  2. 통계분석 > 품질 도구 > Gage 연구 > 계수형 Gage 연구(분석적 방법)를 선택합니다.
  3. 시료 번호에 를 입력합니다.
  4. 기준 값에 를 입력합니다.
  5. 이항 속성 아래에서 요약 카운트를 선택하고 를 입력합니다.
  6. 시행 횟수20을 입력합니다.
  7. 속성 레이블에 기본 레이블 "힙격"을 남겨둡니다.
  8. 계산 공차 한계 아래에서 하한를 선택하고 -0.020을 입력합니다.
  9. 확인를 클릭합니다.

결과 해석

치우침 검정에 대한 귀무 가설은 치우침 = 0이라는 것입니다. p-값이 유의 수준 0.05보다 작기 때문에 귀무 가설을 기각하고 계수형 측정 시스템에 치우침이 있다는 결론을 내립니다.

계수형 Gage 시스템의 치우침은 0.0097955입니다. 엔지니어는 치우침을 줄이기 위해 Gage를 수리하거나 Gage의 눈금을 다시 조정해야 합니다.

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