가속 수명 검사에 대한 해석 요약

가속 수명 검사는 극한 스트레스 수준에서 수명을 모형화하고 정상적인 사용 조건으로 외삽하는 데 사용되는 하나의 예측 변수로 회귀 분석을 수행합니다. 회귀 분석의 예측 변수는 가속 변수입니다. 예측 변수의 수준은 실제 현장에서 일반적으로 사용되는 수준보다 더 극단적입니다. 더 극단적인 스트레스 수준에서 추정하는 경우 정상 사용 조건으로 외삽하는 데 사용할 수 있는 모형은 공학 지식을 사용하여 찾을 수 있습니다.

가속 수명 검사는 다음과 같은 출력으로 구성됩니다.
  • 수명을 예측하는 모형을 설명하는 회귀 분석 표
  • 여러 가지 모형의 적합을 평가하는 데 도움이 되는 적합도 측도
  • 백분위수와 생존 확률 표 및 관계 그림, 제품의 신뢰성을 평가하는 데 도움이 됩니다.
  • 모형에 대한 가정이 적절한지 평가하는 데 도움이 되는 잔차에 대한 확률도

데이터 설명

전자 장치 내부의 트랜지스터 사이에서 누출되는 전류량이 특정 한계치에 도달하면 전자 장치는 단락됩니다. 온도가 올라가면 전류 누출은 증가합니다. 제조업체는 설계 온도 55°C 및 최악의 온도 85°C에서 B5 수명을 추정하기 위해 전자 장치를 검사합니다.

이러한 장치는 정상적인 작동 조건에서는 몇 년 동안 수명이 지속되기 때문에 고장날 때까지 기다릴 수가 없습니다. 장치가 더 빨리 고장나도록 하기 위해 제조업체는 정상 온도보다 훨씬 더 높은 온도에서 장치를 검사합니다. 누출되는 전류량이 지정된 한계치에 도달하면 장치가 고장납니다. 고장 여부를 확인하기 위해 격일로 장치를 검사합니다.

제조업체는 데이터를 모형화하기 위해 Arrhenius 변환을 사용하는 Weibull 분포를 선택합니다.

데이터: 전류누출.MTW

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