生産レポートで連続ロールアップを実行する

生産レポートを使用して連続ロールアップを実行し、複雑な製品の全体的な性能測度を判断しようとしています。この例では、次のアセンブリで製品が構成されているものとします。
  • アセンブリ1には、サブアセンブリ1-1が2単位、サブアセンブリ1-2が1単位必要です。
  • アセンブリ2には、サブアセンブリ2-1が4単位、サブアセンブリ2-2が2単位、サブアセンブリ2-3が1単位必要です。
  • アセンブリ3には、サブアセンブリ3-1が1単位、サブアセンブリ3-2が1単位、サブアセンブリ3-3が6単位必要です。

最終製品には、アセンブリ1が4単位、アセンブリ2が2単位、アセンブリ3が1単位必要です。

アセンブリ1、サブアセンブリ1-1
アセンブリ1、サブアセンブリ1-2

サブアセンブリ1-1およびサブアセンブリ1-2のデータを結合して、アセンブリ1のレポートを作成します。

C1 C2 C3 C4 C5
サブアセンブリ 欠陥 単位 機会/単位 Z.Shift
 1-1 61 140 26040 / 140 = 186 1.24
 1-2 26 162 6156 / 162 = 38 1.23
アセンブリ全体1

アセンブリ1を70単位製造する工程での欠陥数は72です。アセンブリ1全体では、Z = 4.044、YRT = 0.3558です。つまり、1単位のアセンブリ1を欠陥0で製造する確率はおよそ36%です。

アセンブリ2、サブアセンブリ2-1
アセンブリ2、サブアセンブリ2-2
アセンブリ2、サブアセンブリ2-3

次のデータを使用してアセンブリ2のレポートを作成します。

C1 C2 C3 C4 C5
サブアセンブリ 欠陥 単位 機会/単位 Z.Shift
 2-1 69 241 16147 / 241 = 67 1.42
 2-2 30 307 7675 / 307 = 25 1.26
 2-3 36 162 10692 / 162 = 66 1.36

アセンブリ全体2

アセンブリ2を60単位製造する工程での欠陥数は94です。アセンブリ2全体では、Z = 4.035、YRT = 0.2089です。つまり、1単位のアセンブリ2を欠陥0で製造する確率はおよそ21%です。

アセンブリ3、サブアセンブリ3-1
アセンブリ3、サブアセンブリ3-2
アセンブリ3、サブアセンブリ3-3

次のデータを使用してアセンブリ3のレポートを作成します。

C1 C2 C3 C4 C5
サブアセンブリ 欠陥 単位 機会/単位 Z.Shift
 3-1 26 203 7308 / 203 = 36 1.39
 3-2 47 210 13440 / 210 = 64 1.41
 3-3 45 160 7680 / 160 = 48 1.42

アセンブリ全体3

アセンブリ3を60単位製造する工程での欠陥数は136です。アセンブリ3全体では、Z = 3.984、YRT = 0.1034です。つまり、1単位のアセンブリ3を欠陥0で製造する確率はおよそ10%です。

製品全体

製品17個で欠陥数162が予測されます。製品全体では、Z = 4.023、YRT = 0.000073です。つまり、製品全体を欠陥0で製造する確率は本質的には0%です。機会数が大きいこと(総機会数48620 ÷ 製品数17 = 1つの製品あたりの機会数2860)とZ値=4を考慮すると、この結果が期待できます。

3つのアセンブリのZ-値は4にきわめて近く、工程能力はほぼ同じです。

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