加速寿命試験の百分位数表

百分位数表は、指定した水準の加速変数で母集団のある割合が故障すると予測される製品年齢を示します。百分位数の値は、製品が信頼性要件を満たしているかどうかを判断し、2つ以上の製品デザインの信頼性を比較するために使います。

百分位数表は、次の列からなります。
  • パーセント。故障すると予測されるある母集団の割合です。
  • 温度。推定値が示されている温度です。
  • 百分位数。母集団の、ある割合が故障すると予測される製品年齢です。
  • 標準誤差。推定値における変動性の推定法です。
  • 95%信頼区間。パラメータの真の値を含んでいる可能性が高い値の範囲を示します。

これらの値は、データに対して適切なモデルにのみ使用します。モデルがデータに適合していない場合、これらの推定値は不正確になる場合があります。

出力例

百分位数表 95.0%正規信頼区 パーセ 間 ント 温度 百分位数 標準誤差 下限 上限 5 55 759.882 928.717 69.2500 8338.21 5 85 81.0926 63.2317 17.5897 373.855

解釈

電子装置データの場合、結果は次のとおりです。
  • 設計温度の55°Cでは、CMOS RAM装置の5%が759.882日(約2年)後に故障します。
  • 最悪事例の温度の85°Cでは、CMOS RAM装置の5%が81.0926日後に故障します。
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