加速寿命試験の概要

加速寿命試験を使用して、過度のストレス水準での製品の性能(通常は故障時間)をモデル化し、その結果を通常の使用条件に外挿できます。

加速寿命試験の目的は、寿命の長い製品について適時な情報を得るために、故障までの過程を早めることです。加速の方法には、温度、電圧、圧力などの極端な条件下での試験が含まれます。

たとえば、通常の条件下では、マイクロチップは何年かかっても故障しない場合があります。しかし、同じマイクロチップを高温下に置くと数時間内に故障します。加速寿命試験では、マイクロチップが高温下で故障するまでの時間を利用して、通常の条件で故障する可能性の高い時間を予測できます。

加速寿命試験では、故障時間と最低1つの加速変数の関係を評価します。この試験を使用すると、次の疑問点に回答できます。
  • 高い信頼性で部品が故障すると期待される時期
  • 製品寿命における因子の影響
  • 製品寿命を最大限にする因子設定

この分析の場所

加速寿命試験を実行するには、統計 > 信頼性/生存時間 > 加速寿命試験を選択します。

他の分析を使用する場合

応答データが故障時間(または他の単位)の連続測定ではなく、2値(考えられる結果が2つだけ)である場合、プロビット分析を使用します。

本サイトを使用すると、分析およびコンテンツのカスタマイズのためにクッキーが使用されることに同意したことになります。  当社のプライバシーポリシーをご確認ください