Diagramme de relation pour la fonction Test accéléré de durée de vie

Le diagramme de relation indique les percentiles pour le modèle ajusté à chaque niveau de la variable d'accélération et dans toutes les conditions d'utilisation normale. L'interprétation du diagramme de relation dépend de la quantité de données tronquées. Lorsque les données ne sont pas tronquées ou ne le sont que légèrement, utilisez le diagramme de relation pour vérifier les hypothèses sur la relation entre le temps de défaillance (ou son logarithme) et la variable d'accélération. Si les points mettent en évidence une relation linéaire, avec la même pente que les temps aux percentiles, la relation est appropriée pour les niveaux de la variable d'accélération.

Vous ne pouvez pas utiliser ce diagramme pour vérifier la relation entre les temps de défaillance et les conditions d'utilisation normale. Seules vos connaissances sur le procédé et en ingénierie permettent de vérifier que la relation est valable pour les conditions d'utilisation normales. Lorsque les données sont fortement tronquées, vous ne pouvez pas utiliser le diagramme de relation pour vérifier l'hypothèse sur la relation entre le temps de défaillance et la variable d'accélération. Les observations tronquées n'apparaissent pas dans le diagramme ; la relation peut donc ne pas avoir d'aspect linéaire même si la relation choisie est adaptée. Pour les données relatives aux appareils électroniques, les données sont tronquées de manière importante, et la validité de l'hypothèse ne peut donc pas être vérifiée.

Exemple de résultats

Interprétation

Pour les données relatives aux appareils électroniques, nous allons nous intéresser au 5e percentile, soit l'âge avant lequel 5 % des appareils électroniques devraient rencontrer une défaillance aux niveaux de la variable d'accélération spécifiés.

  • A la température d'usage de 55,0 °C, 5 % des périphériques électroniques devraient rencontrer une défaillance avant 760 jours.
  • A la température la plus défavorable de 85,0 °C, 5 % des périphériques électroniques devraient rencontrer une défaillance avant 81 jours.
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