Exemple pour la fonction Plans de test accéléré de durée de vie

Un ingénieur teste des condensateurs aux températures accélérées de 85, 105 et 125 degrés pour déterminer la fiabilité au bout de 1 000 heures dans des conditions normales d'utilisation, à 45 degrés. L'ingénieur dispose de 100 condensateurs pour le test. Il utilise les informations suivantes pour les plans de test.
  • Les temps de défaillance ont tendance à suivre la loi exponentielle.
  • La relation d'Arrhenius avec une ordonnée à l'origine de −8,0 et une pente de 0,5 modélise de manière appropriée la relation entre le log du temps de défaillance et la température.
  1. Sélectionnez Stat > Fiabilité/Survie > Plans de test > Test accéléré de durée de vie.
  2. Sous Paramètre à estimer, sélectionnez Fiabilité au temps et saisissez 1000.
  3. Dans la zone Effectifs d'échantillons ou précisions comme distances de la borne de l'IC à estimer, sélectionnez Effectif d'échantillon et indiquez 100 .
  4. Dans la zone Loi de distribution, sélectionnez Exponentielle. Dans la zone Relation, sélectionnez Arrhenius.
  5. Sous Spécifiez les valeurs prévisionnelles de deux des éléments suivants, dans la zone Ordonnée à l'origine, saisissez -8. Dans la zone Pente, saisissez 0,5.
  6. Cliquez sur Contraintes.
  7. Dans la zone Contrainte d'usage, saisissez 45. Dans la zone Contraintes à tester, saisissez 85 105 125.
  8. Cliquez sur OK dans chaque boîte de dialogue.

Interprétation des résultats

Minitab évalue les plans de test obtenus et affiche les meilleurs, c'est-à-dire ceux qui minimisent le degré de précision ou l'effectif d'échantillon requis. Si c'est vous qui indiquez l'effectif d'échantillon, le meilleur plan de test d’allocations "optimal" est celui ayant la plus petite erreur type pour le paramètre qui vous intéresse.

Pour estimer la fiabilité au bout de 1 000 heures pour la contrainte d'usage de 45 degrés à l'aide du plan optimal, l'ingénieur doit tester le nombre suivant d'unités pour chaque température accélérée :
  • Tester 63 unités à 85 degrés ; les 63 unités devraient rencontrer une défaillance
  • Tester 4 unités à 105 degrés ; les 4 unités devraient rencontrer une défaillance
  • Tester 33 unités à 125 degrés ; les 33 unités devraient rencontrer une défaillance

L'erreur type pour les trois plans étant très proche, l'ingénieur doit également prendre en compte des critères supplémentaires pour choisir le plan d'allocations, en déterminant par exemple le plan qui génère le plus de défaillances ou celui qui est le moins coûteux à exécuter.

Plans de test accéléré de la durée de vie

Planification de la loi Loi de Ordonnée à distribution l'origine Pente Exponentielle -8 0,5
Données non tronquées Modèle Arrhenius Paramètre estimé : Fiabilité à la durée prévue = 1000 Estimation calculée de la planification = 0,964857 Valeur de contrainte du plan = 45

Plans de tests sélectionnés : plans de tests d’allocation “Optimum”

Total d'unités d'échantillons disponibles = 100

1er meilleur plan de test d’allocations “Optimum” Contrainte Pourcentage Alloc. de Défaillances de test de défectueux pourcentages Echantillons attendues 85 100 63,3333 63 63 105 100 3,9583 4 4 125 100 32,7083 33 33 Erreur type du paramètre d'intérêt = 0,0123437
2e meilleur plan de test d’allocations “Optimum” Contrainte Pourcentage Alloc. de Défaillances de test de défectueux pourcentages Echantillons attendues 85 100 68,3333 68 68 105 100 3,9583 4 4 125 100 27,7083 28 28 Erreur type du paramètre d'intérêt = 0,0124673
3er meilleur plan de test d’allocations “Optimum” Contrainte Pourcentage Alloc. de Défaillances de test de défectueux pourcentages Echantillons attendues 85 100 58,3333 58 58 105 100 8,9583 9 9 125 100 32,7083 33 33 Erreur type du paramètre d'intérêt = 0,0126711
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