Données sur les fuites de courant électrique

Un ingénieur fiabiliste souhaite étudier les fuites de courant électrique entre les transistors d'un appareil électronique. Lorsque la fuite de courant électrique atteint une certaine valeur seuil, l'appareil électronique rencontre une défaillance. Pour accélérer la fréquence de défaillances lors du test, les appareils ont été testés à des températures beaucoup plus élevées que la normale. Le bon fonctionnement des appareils est vérifié tous les deux jours.

Ces données permettent de montrer comment s'utilise la fonction Test accéléré de durée de vie. La relation entre la température d'Arrhénius et les défaillances est linéaire.

Colonne de feuille de travail Description
Heure début Début de l'intervalle de test, en jours.
Heure fin Fin de l'intervalle de test, en jours. Les appareils sont vérifiés tous les deux jours.
Nombre Nombre d'appareils qui ont connu une défaillance lors de l'intervalle défini par les valeurs Heure début et Heure fin.
Tempé Température à laquelle l'appareil a été exposé.
TempéNouv Températures utilisées pour les prévisions. 55 oC est la température standard et 85 oC est le pire cas de figure de température.

La ligne 1 indique qu'aucun dispositif exposé à une température de 125 oC n'a rencontré de défaillance dans l'intervalle allant du début du test jusqu'à la première vérification, au jour 2. La ligne 8 indique que 46 dispositifs ayant été exposés à une température de 125 oC lors de l'intervalle allant du jour 14 jusqu'à la fin du test, au jour 16, fonctionnaient encore.

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