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Un fabricant de semi-conducteurs souhaite inspecter des matrices sur des plaquettes de semi-conducteurs de 5 lots différents. Ils donnent à chaque matrice une coordonnée X et Y, puis ils inspectent le nombre de défauts sur chaque matrice.
Ces données permettent de montrer comment s'utilise la fonction Diagramme de wafer.
| Colonne de feuille de travail | Description |
|---|---|
| Lot | Le numéro de lot du semi-conducteur. |
| X | La coordonnée X du semi-conducteur. |
| Y | La coordonnée Y du semi-conducteur. |
| Défauts | Le nombre de défauts sur le semi-conducteur. |
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