Gráfica de ID de distribución, Gráfica de revisión general de distribuciones, Análisis de distribución paramétrico, y Análisis de distribución no paramétrico almacenar definiciones de datos de fiabilidad. Selecciona una definición existente para usar rápidamente las mismas columnas de muestra y de censura.
Para crear una nueva definición, selecciona Definición personalizada.
Por defecto, el nombre de la definición es la palabra "definición" seguida de la fecha y hora de creación entre paréntesis. Para eliminar o renombrar una definición, seleccione Administrar definiciones.
Selecciona el esquema de censura para los datos. La censura significa que los tiempos exactos de fallo son desconocidos para algunos datos. En los datos censurados a la derecha, los tiempos exactos de fallo son desconocidos para las unidades que sobreviven al final de la recogida de datos. En los datos censurados por intervalos, los tiempos exactos de fallo son desconocidos porque la detección de fallos ocurre solo al final de un intervalo de inspección. Para más información sobre tipos de censura, visite Censura de los datos.
| C1 | C2 |
|---|---|
| Durabilidad | Censurado |
| 81 | Censurado |
| 77 | Censurado |
| 75 | Falla |
| 74 | Falla |
| C1 | C2 | C3 |
|---|---|---|
| Tiempo de inicio | Tiempo final | Conteo |
| * | 2 | 5 |
| 0 | 2 | 6 |
| 2 | 4 | 7 |
| 5 | 5 | 8 |
| 4 | 6 | 4 |
| 6 | * | 83 |
| C1 | C2 | C3 | C4 | C5 | C6 |
|---|---|---|---|---|---|
| Año de envío | Cantidad de envíos | Regresó en el segundo año | Regresó en el tercer año | Regresó en el cuarto año | Regresó en el quinto año |
| Año 1 | 10000 | 50 | 60 | 100 | 300 |
| Año 2 | 15000 | 78 | 130 | 200 | |
| Año 3 | 23000 | 275 | 600 | ||
| Año 4 | 32000 | 400 |
| C1 | C2 | C3 | C4 |
|---|---|---|---|
| Enviado en el primer año | Enviado en segundo año | Enviado en tercer año | Enviado en cuarto curso |
| 10000 | 15000 | 23000 | 32000 |
| 50 | 78 | 275 | 400 |
| 60 | 130 | 600 | |
| 100 | 200 | ||
| 300 |
Si los datos tienen varias muestras, selecciona si las muestras están en columnas diferentes o en la misma columna. Las opciones dependen del esquema de censura de los datos.
| C1 | C2 |
|---|---|
| Días A | Días B |
| 81 | 77 |
| 75 | 74 |
| 77 | 70 |
| 78 | 71 |
| C1 | C2 |
|---|---|
| Días | ID de la muestra |
| 81 | A |
| 77 | B |
| 75 | A |
| 74 | B |
| C1 | C2 | C3 | C4 | C5 | C6 |
|---|---|---|---|---|---|
| Tiempo de inicio A | Tiempo de finalización A | Conteo A | Tiempo de inicio B | Tiempo de finalización B | Conteo B |
| 0 | 2 | 6 | 0 | 8 | 16 |
| 2 | 4 | 7 | 8 | 16 | 27 |
| 4 | 6 | 4 | 16 | * | 157 |
| 6 | * | 83 |
| C1 | C2 | C3 | C4 |
|---|---|---|---|
| Tiempo de inicio | Tiempo final | ID de la muestra | Conteo |
| 0 | 2 | A | 6 |
| 0 | 8 | B | 16 |
| 2 | 4 | A | 7 |
| 8 | 16 | B | 27 |
| C1 | C2 | C3 | C4 | C5 | C6 |
|---|---|---|---|---|---|
| Año de envío | Cantidad de envíos | Regresó en el segundo año | Regresó en el tercer año | Regresó en el cuarto año | Regresó en el quinto año |
| Año 1 | 10000 | 50 | 60 | 100 | 300 |
| Año 2 | 15000 | 78 | 130 | 200 | |
| Año 3 | 23000 | 275 | 600 | ||
| Año 4 | 32000 | 400 |
| C1 | C2 | C3 | C5 |
|---|---|---|---|
| Enviado en el primer año | Enviado en segundo año | Enviado en tercer año | Enviado en cuarto curso |
| 10000 | 15000 | 23000 | 32000 |
| 50 | 78 | 275 | 400 |
| 60 | 130 | 600 | |
| 100 | 200 | ||
| 300 |
Si cada muestra en los datos tiene una columna que identifica un modo de fallo para cada observación, el análisis puede proporcionar resultados por modo de fallo. Varias muestras pueden tener la misma columna de modo de fallo. Para representar observaciones censuradas por la derecha en la columna de modo de falla, utilice un asterisco (*) para columnas numéricas o un espacio para columnas de texto. Para obtener más información sobre modos de falla, vaya a ¿Qué es un modo de falla?.
Para analizar múltiples modos de fallo, seleccione En columnas. El análisis añade un campo para los modos de fallo a la tabla para la definición de datos de fiabilidad. Para mostrar tablas con resultados de modos de fallo individuales, selecciona Resultados, y luego selecciona Mostrar resultados del análisis para modos de falla individuales.
Para excluir los modos de fallo, seleccione Opciones de modos de falla. Para Análisis de distribución paramétrico, también puedes seleccionar diferentes distribuciones para distintos modos de fallo.
Seleccione una distribución para modelar sus datos. Base su decisión en el conocimiento del proceso o utilice gráficas de probabilidad para evaluar el ajuste del modelo. Para obtener más información, vaya a Ajuste de distribución para el análisis de fiabilidad.