Los cálculos de la probabilidad de pasar un plan de pruebas dependen de la distribución que modela las fallas. Para una distribución logarítmica-ubicación-escala, la probabilidad depende de la relación de mejora. Para una distribución de ubicación-escala, la probabilidad depende de la cantidad de mejora. La expresión de las fórmulas se divide perfectamente en dos casos que dependen de si se especifica el tamaño de la muestra o el tiempo de prueba.
satisface la siguiente ecuación:

, la solución es,
, de la ecuación tiene la siguiente forma:

es la función de distribución acumulada inversa de la distribución beta con los siguientes parámetros de forma:


, invierta la función
. La inversión depende de la familia de distribuciones.


y la mejora:

donde
es la función de fiabilidad del modelo de distribución en términos de
y
.


La tabla siguiente da la función de
para la familia de distribuciones y la meta de la prueba:
| Meta de fiabilidad | ||||
|---|---|---|---|---|
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
|
| Logarítmica-ubicación-escala |
![]() ![]() ![]() |
![]() ![]() ![]() |
![]() ![]() ![]() |
![]() ![]() ![]() |
| Meta de fiabilidad | ||||
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
|
| Ubicación-escala |
![]() ![]() ![]() |
![]() ![]() ![]() |
![]() ![]() ![]() |
![]() ![]() ![]() |


para la distribución de Weibull
, y un tamaño de muestra determinado, la probabilidad de pasar tiene la siguiente forma:

donde

satisface la siguiente ecuación:

), la solución de la ecuación,
, tiene la siguiente forma:

), no existe ninguna solución de forma cerrada. Meeker y Escobar (1998)1 da la siguiente solución aproximada:

donde

Minitab encuentra la solución exacta numéricamente cuando
.
y la mejora:

donde
es la función de fiabilidad del modelo de distribución en términos de
y
.


La función
tiene las mismas definiciones que cuando las especificaciones de la prueba dan el tamaño de la muestra.
para la distribución de Weibull
y un tiempo de prueba determinado, la probabilidad de pasar tiene la siguiente forma:

donde

| Término | Description |
|---|---|
| N | tamaño de la muestra para el diseño cuando las especificaciones de la prueba proporcionan el tamaño de la muestra |
| m | número de unidades que fallan durante la prueba |
![]() | nivel de significancia, de modo que el nivel de confianza de la prueba de demostración sea ![]() |
![]() | parámetro de escala |
![]() | función de distribución acumulada de la distribución estándar para la distribución logarítmica-ubicación-escala o la distribución de ubicación-escala seleccionada |
![]() | función de distribución acumulada inversa de la distribución estándar para la distribución logarítmica-ubicación-escala o la distribución de ubicación-escala seleccionada |
![]() | parámetro de ubicación para la distribución que cumple con la meta de la prueba |
![]() | parámetro de forma de la distribución de Weibull |
![]() | tiempo de prueba cuando las especificaciones de la prueba proporcionan el tamaño de la muestra |
![]() | relación de mejora de las distribuciones logarítmica-ubicación-escala o la cantidad de mejora para las distribuciones de ubicación-escala |
![]() | fiabilidad en el tiempo t que es la meta de la prueba |
![]() | percentil en el porcentaje p que es la meta de la prueba |
![]() | tiempo medio antes de falla que es la meta de la prueba |
![]() | tiempo de prueba cuando las especificaciones de la prueba proporcionan el tiempo de prueba |
![]() | tamaño de la muestra cuando las especificaciones de la prueba proporcionan el tiempo de prueba |