Tabla de regresión - ecuación de regresión estimada para Pruebas aceleradas de vida útil

La tabla estima el modelo de mejor ajuste para los tiempos de fallas. El modelo de pruebas aceleradas de vida útil toma la forma de:

Predicción = intersección + coeficiente(predictor) + escala (función de cuantiles) o

Y_p = β₀ + β₁(x) + σΦ^-1(p)

Donde:

Predicción (Y_p): tiempo de falla logarítmico (Weibull, exponencial, lognormal y loglogística) y tiempo de falla para las distribuciones de valores extremos, normal y logística.
Intersección (β₀): tiempo de falla logarítmico o tiempo de falla (dependiendo de la distribución) cuando la variable de aceleración transformada y el percentil de la función de cuantiles son 0.
Coeficiente ( β₁): coeficiente de regresión asociado con X.
Predictor (x): variable de aceleración transformada.
Escala (σ): parámetro de escala. Para la escala de la distribución de Weibull = 1.0/forma.
Función de cuantiles (Φ^-1(p)): el cuantil p ésimo de la distribución de vida útil estandarizada.

Verifique que los supuestos del modelo, tales como la distribución, igualdad de forma (para la distribución de Weibull y la distribución exponencial), igualdad de escala (para otras distribuciones) y la transformación, sean apropiados para sus datos. Utilice las gráficas de probabilidad para revisar los supuestos del modelo. Estas gráficas de diagnóstico evalúan si el modelo es apropiado a niveles de temperatura acelerados. Sin embargo, el conocimiento de ingeniería es lo único que permite verificar si el modelo es apropiado a las temperaturas de diseño.

Debido a la incertidumbre de la predicción del tiempo de falla en condiciones de diseño, evalúe periódicamente el modelo a medida que obtenga más información, como por ejemplo datos de funcionamiento en campo.

Ejemplo de salida

Tabla de regresión

		Error estándar			IC normal de 95.0%
Predictor	Coef	Error estándar	Z	P	Inferior	Superior
Intersección	-17.0990	4.13633	-4.13	0.000	-25.2061	-8.99195
Temp	0.755405	0.157076	4.81	0.000	0.447542	1.06327
Forma	0.996225	0.136187			0.762071	1.30232

Interpretación

Para los datos sobre dispositivos electrónicos, la tabla ofrece estimaciones del modelo de mejor ajuste, presuponiendo el uso de una distribución de Weibull con una transformación de Arrhenius. El modelo estimado es:

log(Y_p) = −17.0990 + 0.755405 x + (1.0/0.996225) * Φ^-1(p)

Donde:

Y_p: tiempo de falla para los dispositivos electrónicos
x: [11604.83/(Temp + 273.16)] (transformación de Arrhenius)
Φ^-1(p): la función de cuantiles (para obtener más información, vaya a Métodos y fórmulas para ecuaciones y haga clic en "Función de cuantiles".)