Un ingeniero especializado en fiabilidad desea investigar las fugas de corriente eléctrica entre los transistores de un dispositivo electrónico. Cuando la fuga de corriente alcanza cierto valor umbral, el dispositivo electrónico falla. Con el fin de acelerar las fallas durante las pruebas, los dispositivos se pusieron a prueba a temperaturas mucho más altas de lo normal. Los dispositivos se inspeccionaban cada dos días para detectar fallas.
El ingeniero realiza una prueba acelerada de vida útil para estimar el tiempo hasta la falla del dispositivo en condiciones normales de funcionamiento (55° C) y en las peores condiciones de funcionamiento (85º C). El ingeniero quiere determinar la vida útil B5, que es la cantidad estimada de tiempo en la que se espera que falle el 5% de los dispositivos.
Con base en los resultados en la tabla de percentiles, el ingeniero puede concluir lo siguiente:
La gráfica de probabilidad basada en el modelo ajustado puede ayudar a determinar si la distribución, la transformación y el supuesto de igual forma (Weibull) en cada nivel de la variable de aceleración son apropiados. Para estos datos, los puntos siguen una línea aproximadamente recta. Por lo tanto, los supuestos del modelo son apropiados para los niveles de la variable de aceleración.
Información de censura | Conteo |
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Valor censurado por la derecha | 95 |
Valor censurado del intervalo | 58 |
Error estándar | IC normal de 95.0% | |||||
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Predictor | Coef | Z | P | Inferior | Superior | |
Intersección | -17.0990 | 4.13633 | -4.13 | 0.000 | -25.2061 | -8.99195 |
Temp | 0.755405 | 0.157076 | 4.81 | 0.000 | 0.447542 | 1.06327 |
Forma | 0.996225 | 0.136187 | 0.762071 | 1.30232 |
Error estándar | IC normal de 95.0% | ||||
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Porcentaje | Temp | Percentil | Inferior | Superior | |
5 | 55 | 759.882 | 928.717 | 69.2500 | 8338.21 |
5 | 85 | 81.0926 | 63.2317 | 17.5897 | 373.855 |