Un fabricante de semiconductores quiere inspeccionar matrices en obleas de semiconductores de 5 lotes diferentes. Le dan a cada troquel una coordenada X e Y, luego inspeccionan el número de defectos en cada troquel.
- Abra los datos de muestra, Semiconductores.MWX.
- Elija y, a continuación, seleccione Gráfica de oblea de la lista de gráficos.
- En Coordenadas X, ingrese X. En Coordenadas Y, ingrese Y.
- En Variable de respuesta, ingrese Fehler.
- En Por variable , escriba Lote. En Diseño, seleccione En paneles separados de una gráfica.
- Seleccione Crear.
Interpretar los resultados
El fabricante inspecciona el trazado de la oblea en busca de áreas que contengan un gran número de defectos. El lote 5 tiene una gran cantidad de defectos, específicamente troqueles con valores de coordenadas Y muy altos y muy bajos. El fabricante decide no utilizar estos troqueles para producir semiconductores.
