Revisión general de Pruebas aceleradas de vida útil

Utilice Pruebas aceleradas de vida útil para modelar el rendimiento del producto (por lo general, los tiempos de falla) en niveles extremos de tensión y extrapolar los resultados nuevamente a las condiciones de uso normal.

La meta de una prueba acelerada de vida útil es acelerar el proceso de falla para obtener información a tiempo sobre productos de larga duración. Los métodos de aceleración incluyen pruebas a temperaturas, voltaje y presión extremos, y así sucesivamente.

Por ejemplo, en condiciones normales, un microchip puede no fallar durante muchos años. Sin embargo, este mismo microchip presentará fallas en horas al someterlo a altas temperaturas. Con una prueba acelerada de vida útil, usted puede utilizar la información acerca de cuándo fallan los microchips a altas temperaturas para predecir cuándo pueden tener lugar las fallas en condiciones normales de operación.

Una prueba acelerada de vida útil evalúa la relación entre tiempo de falla y por lo menos una variable de aceleración. Utilice esta prueba para responder preguntas tales como las siguientes:
  • ¿Por qué se espera que componentes sumamente fiables fallen?
  • ¿Cuál es el efecto de un factor en la vida útil de un producto?
  • ¿Cuál configuración de los factores maximizará la vida útil de un producto?

Dónde encontrar este análisis

Para realizar una prueba acelerada de vida útil, elija Estadísticas > Confiabilidad/supervivencia > Prueba acelerada de vida útil.

Cuándo utilizar un análisis alternativo

Si sus datos de respuesta son binarios (solo dos resultados posibles), en lugar de mediciones continuas de tiempo de falla (u otras unidades), utilice Análisis probit.

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