Ejemplo de Pruebas aceleradas de vida útil

Un ingeniero especializado en fiabilidad desea investigar las fugas de corriente eléctrica entre los transistores de un dispositivo electrónico. Cuando la fuga de corriente alcanza cierto valor umbral, el dispositivo electrónico falla. Con el fin de acelerar las fallas durante las pruebas, los dispositivos se pusieron a prueba a temperaturas mucho más altas de lo normal. Los dispositivos se inspeccionaban cada dos días para detectar fallas.

El ingeniero realiza una prueba acelerada de vida útil para estimar el tiempo hasta la falla del dispositivo en condiciones normales de funcionamiento (55° C) y en las peores condiciones de funcionamiento (85º C). El ingeniero quiere determinar la vida útil B5, que es la cantidad estimada de tiempo en la que se espera que falle el 5% de los dispositivos.

  1. Abra los datos de muestra, FugasCorriente.MTW.
  2. Elija Estadísticas > Confiabilidad/supervivencia > Prueba acelerada de vida útil.
  3. Seleccione Las respuestas son datos no cens./censurados arbitrariamente.
  4. En Variables/Variables iniciales, ingrese TiempoInicio.
  5. En Variables finales, ingrese TiempoFin.
  6. En Columnas de frec., ingrese Conteo.
  7. En Variable de aceleración, ingrese Temp.
  8. En Relación, seleccione Arrhenius.
  9. En Distribución asumida, seleccione Weibull.
  10. Haga clic en Estimar. En Estimación de percentiles y probabilidades, seleccione Ingresar nuevos valores predictores y luego ingrese NuevaTemp.
  11. En Estimar percentiles para porcentajes, ingrese 5 y luego haga clic en Aceptar.
  12. Haga clic en Gráficas. En Valor de diseño que se incluirá en gráficas, ingrese 55.
  13. En Gráfica de relación, en Graficar percentiles para porcentajes, ingrese 5 y luego seleccione Mostrar tiempos de falla en la gráfica.
  14. Haga clic en Aceptar en cada cuadro de diálogo.

Interpretar los resultados

Con base en los resultados en la tabla de percentiles, el ingeniero puede concluir lo siguiente:

  • A la temperatura del diseño (55° C), 5% de los dispositivos fallará después de aproximadamente 760 días (poco más de 2 años).
  • A la temperatura de peor situación (85 °C), 5% de los dispositivos fallará después de aproximadamente 81 días.
Estos resultados también se muestran en la gráfica de relación.

La gráfica de probabilidad basada en el modelo ajustado puede ayudar a determinar si la distribución, la transformación y el supuesto de igual forma (Weibull) en cada nivel de la variable de aceleración son apropiados. Para estos datos, los puntos siguen una línea aproximadamente recta. Por lo tanto, los supuestos del modelo son apropiados para los niveles de la variable de aceleración.

Prueba acelerada de vida útil: TiempoInicio vs. Temp

* NOTA * 21 casos utilizados * NOTA * 3 casos contenían valores faltantes o era un caso con frecuencia cero.
Inicio de la variable de respuesta: TiempoInicio Fin: TiempoFin Frecuencia: Conteo Censura Información de censura Conteo Valor censurado por la derecha 95 Valor censurado del intervalo 58 Método de cálculo: Máxima verosimilitud Distribución: Weibull Relación con variables aceleradoras: Arrhenius
Tabla de regresión Error IC normal de 95.0% Predictor Coef estándar Z P Inferior Superior Intersección -17.0990 4.13633 -4.13 0.000 -25.2061 -8.99195 Temp 0.755405 0.157076 4.81 0.000 0.447542 1.06327 Forma 0.996225 0.136187 0.762071 1.30232 Log-verosimilitud = -191.130
Tabla de percentiles Error IC normal de 95.0% Porcentaje Temp Percentil estándar Inferior Superior 5 55 759.882 928.717 69.2500 8338.21 5 85 81.0926 63.2317 17.5897 373.855
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