Übersicht über Beschleunigte Lebensdauerprüfung

Verwenden Sie Beschleunigte Lebensdauerprüfung, um die Produktleistung (meist in Form von Ausfallzeiten) bei extremen Stressstufen zu modellieren und die Ergebnisse zurück zu den normalen Nutzungsbedingungen zu extrapolieren.

Das Ziel einer beschleunigten Lebensdauerprüfung besteht in der Beschleunigung des Ausfallprozesses, um frühzeitig Informationen zu Produkten mit einer langen Lebensdauer zu erhalten. Zu den Methoden für die beschleunigte Prüfung zählen u. a. Tests unter extremen Temperatur-, Spannungs- und Druckbedingungen.

Unter normalen Bedingungen kann es beispielsweise viele Jahre dauern, bis ein Mikrochip ausfällt. Wenn derselbe Mikrochip jedoch hohen Temperaturen ausgesetzt wird, fällt dieser innerhalb von Stunden aus. Mit einer beschleunigten Lebensdauerprüfung können Sie anhand der Informationen zum Ausfallzeitpunkt von Mikrochips bei hohen Temperaturen wahrscheinliche Ausfallzeitpunkte unter normalen Bedingungen prognostizieren.

Bei einer beschleunigten Lebensdauerprüfung wird die Beziehung zwischen der Ausfallzeit und mindestens einer Beschleunigungsvariablen untersucht. Anhand dieser Prüfung können Sie Fragen wie die Folgenden beantworten:

Für welchen Zeitpunkt ist der Ausfall von höchst zuverlässigen Komponenten zu erwarten?
Wie wirkt sich ein bestimmter Faktor auf die Lebensdauer eines Produkts aus?
Mit welchen Faktoreinstellungen kann die Lebensdauer eines Produkts maximiert werden?

Wo finde ich diese Analyse?

Um eine beschleunigte Lebensdauerprüfung durchzuführen, wählen Sie Statistik > Zuverlässigkeit/Lebensdauer > Beschleunigte Lebensdauerprüfung aus.

In welchen Fällen bietet sich eine andere Analyse an?

Wenn es sich bei den Daten der Antwortvariablen um Binärwerte (nur zwei mögliche Ergebnisse) und nicht um stetige Messwerte der Ausfallzeit (oder Maße in anderen Einheiten) handelt, verwenden Sie Probit-Analyse.