加速寿命试验的百分位数表

百分位数表指示在指定的加速变量水平上,达到预期失效的总体百分比时的使用寿命。使用百分位数值可确定产品是否符合可靠性要求,或比较两个或两个以上产品设计的可靠性。

百分位数表包括下列各列:
  • 百分比,这是预期失效的总体百分比。
  • 温度,指提供估计值时的温度。
  • 百分位数,指达到预期失效的总体百分比时的使用寿命。
  • 标准误,指估计值中变异性的度量。
  • 95% 置信区间,提供可能包含参数实际值的值范围。

只能在具有合适的数据模型时才能使用这些值。如果模型对数据的拟合效果很差,则这些估计值可能不准确。

示例输出

百分位数表格





95.0% 正态置信区间
百分比温度百分位数标准误下限上限
555759.882928.71769.25008338.21
58581.092663.231717.5897373.855

解释

对于电子设备数据,结果中显示如下内容:
  • 在设计温度 55°C 下,5% 的 CMOS RAM 设备将在 759.882 天(约 2 年)后失效。
  • 在最坏情况温度 85°C 下,5% 的 CMOS RAM 设备将在 81.0926 天之后失效。