加速寿命试验的解释汇总

加速寿命检验通过一个预测变量执行回归，该预测变量用于在极端应力水平下对失效次数建模，并推断回正常使用条件。回归中的预测变量是一个加速变量；其水平通常比现场中的变量的水平更极端。使用工程知识找到一个模型，在更极端的应力水平条件下进行估计时，该模型可用于推断回正常使用条件。

加速寿命检验包括下列输出：

数据说明

有些电流会在电子设备中的晶体管之间泄漏。如果漏电情况达到特定阈值，则设备将发生短路。随着温度的升高，漏电情况会加剧。制造商检验电子设备，以估计在设计温度 55° C 下的 B5 寿命，以及在最坏情况 85° C 下的 B5 寿命。

由于这些设备在正常操作条件下可使用几年，因此使这些设备运行直到失效是没有实际意义的检验方法。为了加快设备失效速度，制造商在比正常温度高得多的温度下检验设备。当漏电情况达到指定的阈值时，设备将失效。每两天检查一次设备的失效情况。

制造商选择使用具有 Arrhenius 变换的 Weibull 分布对数据进行模拟。