加速寿命试验的概述

使用加速寿命试验可以对极端应力水平下的产品性能（通常是失效时间）建模并推断正常使用条件下的结果。

加速寿命检验的目的是加速失效过程以便及时获取有关寿命较长产品的信息。加速方法包括在极端温度、电压、压力等条件下执行的检验。

例如，在正常条件下，微芯片可能在数年内不失效。但是，在高温条件下，相同的微芯片可能在数小时内就会失效。使用加速寿命检验，您可以使用微芯片在高温下的失效时间信息来预测正常操作条件下可能出现失效的时间。