什么是过程变异的来源？

观测到的过程变异可以分为两个来源：

零件间差异（产品变体）

— 由于测量不同的部件而产生的变异性。理想情况下，零件之间的差异（零件到零件）应该可以解释大部分可变性。

测量系统变异

测量系统变化是与测量过程相关的所有变化。潜在的变化来源包括量具、标准、程序、软件、环境组件等。

与任何其他过程一样，测量系统既有常见原因的变异，也有特殊原因的变异。要控制测量系统变异，必须首先识别变异的来源，然后必须排除或减少这些多种多样的原因。测量系统变异可以分为两个来源：

重复性（测试-重测误差）

重复性是因测量设备导致的变异。它是同一操作员使用相同量具在同一条件下，对同一部件进行多次测量时实测获得的变异。

再现性（操作员和按部件操作）

再现性是因测量系统导致的变异。它是不同操作员使用同一量具在相同条件下，对同一部件进行多次测量时实测获得的变异。

再现性可以分为两个来源：

• 操作员：由于不同操作员所引起的测量变异性。
• 按部件划分的操作员：在分别考虑零件和操作员后，由于不同的操作员/零件组合而导致的测量变化。