此运行图显示测量值相对于参考值和公差范围是如何变化的。观测值按照测量顺序进行绘制。使用运行图查找偏倚证据或过程中的其他测量系统变异。
参考值是标准部件已知且正确的测量值。在测量系统分析过程中,参考值作为主值进行比较。例如,您有一个用于校准天平的已知重为 0.025g 的参考部件。
理想情况下,参考值应接近于所测量特征的公差区域的中心。
可以通过多种方式确定参考值,具体取决于行业标准以及公司和客户期望。通常,参考值得自多个准确测量设备所得重复测量值的平均值,或使用实验室认证的标准。
均值是所有标准测量值的平均值,通过将所有测量值之和除以测量值个数计算得出。
标准差即标准的所有测量值的标准差。
标准差是离差的最常用度量,即数据从均值展开的程度。较大样本标准差表示您的数据围绕均值分布较广。
研究变异是标准差的 6 倍。
默认情况下,每个分量的研究变异是其标准差的六倍,但可以更改倍数。AIAG 建议在量具 R&R 研究中使用 6,因为 6 是从源中捕获 99.73% 的变异所需的标准差数。例如,指定 5.15 以捕获 99% 的变异。
公差即测量分量的公差范围。它是规格上限和下限之间的差。
偏倚用来度量测量系统的准确度。偏倚等于参考部件的已知标准值与观测到的平均测量值之间的差异。
对于可以准确测量的量具,偏倚百分比将很小。要确定偏倚统计意义是否显著,请使用 p 值。
T 是偏倚 ≠ 0 的备择假设的 t 统计量。
t 检验将观测到的 t 统计量与具有 (n-1) 自由度的 t 分布上的临界值进行比较,以确定测量系统中的偏倚是否统计意义显著。
p 值与 t 统计量相关联。是假定偏倚为零的情况下,t 统计量大于或等于计算得到的 t 统计量的概率。t 统计量增加时,p 值减小。较小的 p 值意味着偏倚等于 0 的假设可能不为真。
Cg 是将公差范围与量具和操作员的测量变异进行比较的能力指数。
Cg 的值越大表示系统的能力越强。当 Cg 小于常用的基准值 1.33 时,测量系统将无法一致且准确地测量部件。
仅当指定公差范围时才计算能力指数。
有关 Cg 的更多信息,请转到 使用类型 1 量具研究评估测量过程的能力。
CgK 是将公差范围与量具和操作员的总偏倚和测量变异进行比较的能力指数。
Cgk 的值越大表示系统能力越强。当 Cgk 小于常用的基准值 1.33 时,测量系统将无法一致且准确地测量部件。
仅当指定公差范围时才计算能力指数。
有关 Cgk 的更多信息,请转到 使用类型 1 量具研究评估测量过程的能力。
分辨率是指定的量具分辨率。
作为一项准则,分辨率不应大于公差的 5%。因此,如果同时指定分辨率和公差,则 Minitab 将计算分辨率是小于、大于还是等于公差的 5%。
重复性与带有公差的量具重复性进行比较的变异百分比。
重复性和偏倚与带有公差的量具重复性和偏倚进行比较的变异百分比。