I-MR-R/S 控制图的所有统计量和图形

请查找定义和解释指导，了解随 I-MR-R/S 控制图提供的每个统计量和图形。

关于本主题

标绘点
中心线
控制限
特殊原因检验
I-MR-R/S 控制图的标准差
阶段

标绘点

I 控制图上的标绘点是子组均值。

MR 控制图上的标绘点是子组均值的移动极差。移动极差是两个或多个连续点之间差值的绝对值。

R 控制图上的标绘点表示子组极差，S 控制图上的标绘点是子组标准差。

解释

如果过程处于受控状态，点将围绕中心线随机变化，过程仅表现常见原因变异。可以调查位于控制限外部的点或者表现出非随机模式的点，查看是否存在可能的特殊原因变异。

中心线

I 控制图上的中心线是过程平均值的估计值。MR 控制图上的中心线是连续子组的均值的平均变异。R 或 S 控制图上的中心线是子组内的平均变异量。

解释

使用中心线可以查看与平均值相比过程的执行情况。如果过程处于受控状态，点将围绕中心线随机变化。

警告

请勿将中心线与过程的目标值相混淆。目标是所希望的结果。中心线是实际结果。

控制限

控制限是位于中心线上方和下方的水平线。控制限指示过程是否不受控制，它们基于在子组内观测到的变异以及标绘点中的预期变异。默认情况下，Minitab 会在中心线上下 3 倍于标准差的位置显示控制限。

警告

请勿将控制限与规格限相混淆。规格限表示客户的要求，它指示您希望在过程中看到的变异量。控制限表示样本数据中的实际变异量。过程可能处于受控状态，但仍不能符合规格要求。

特殊原因检验

特殊原因检验评估标绘点是否随机分布在控制限之内。

解释

使用特殊原因检验，可以确定需要调查的观测值和您数据中的具体模式和趋势。每项特殊原因检验将检测您数据中的具体模式或者趋势，这将揭示过程不稳定性的不同方面。例如，检验 1 检测单个失控点。检验 2 检测过程中可能的偏移。

针对此控制图提供了八种检验。

检验 1：点距离中心线超过 3σ: 检验 1 将标识较其他子组而言异常的子组。检验 1 是公认的、用于检测失控情况的必要检验。如果关注过程中的较小偏移，则可以使用检验 2 来补充检验 1，以便创建一个具有更高敏感度的控制图。
检验 2：中心线同一侧行内连续 9 点: 检验 2 会标识过程居中或变异中的偏移。如果关注过程中的较小偏移，则可以使用检验 2 来补充检验 1，以便创建一个具有更高敏感度的控制图。
检验 3：行内 6 点，全部递增或全部递减: 检验 3 检测趋势。此检验将查找值持续增加或减少的一系列连续点。
检验 4：行内连续 14 个点上下交错: 检验 4 检测系统性变异。您希望过程中的变异模式具有随机性，但是未通过检验 4 的某个点可能指示变异模式是可预测的。
检验 5：2 个（共 3 个）距离中心线超过 2σ 的点（同一侧）: 检验 5 检测过程中的小偏移。
检验 6：4 个（共 5 个）距离中心线超过 1σ 的点（同一侧）: 检验 6 检测过程中的小偏移。
检验 7：行内连续 14 个点距离中心线在 1σ 内（任一侧）: 检验 7 检测有时被误当做良好控制证据的变异模式。此检验可检测到过宽的控制限。过宽的控制限通常是由分层数据导致的，如果每个子组中存在系统变异源，则数据会发生分层现象。
检验 8：行内连续 8 个点距离中心线超过 1σ（任一侧）: 检验 8 检测混合模式。在混合模式中，这些点具有避开中心线的趋势，而落在控制限附近。