Minitab 提供了五种特殊原因检验。G 控制图包括可用来检测稀有事件高发生率的 Benneyan 检验。专家建议，在创建 G 控制图时，您可以使用检验 1 和检验 2，因为 G 控制图检测事件之间平均天数或机会数的中小幅度下降比较慢。请根据公司或行业标准选择其他检验。使用检验可以确定要调查的观测值，并确定您数据中的具体模式和趋势。
对于属性数据的传统控制图，检验 1 基于正态分布。但是对于 G 控制图，检验 1 基于几何分布。当 G 控制图上的点超出几何分布的百分位数（对应正态分布中心线的 3 个标准差）时，该点未能通过检验 1。有关更多信息，请转到 G 控制图的方法和公式并单击“特殊原因检验（包括 Benneyan 检验）”。
在下拉列表中，指定是执行部分特殊原因检验、全部特殊原因检验还是不执行特殊原因检验。您可以通过更改 K 的值来提高或降低检验的敏感度。
提示
要更改 Minitab 将来会话的默认设置，请选择。
- 1 个点，距离中心线大于 K 个标准差
- 检验 1 识别与其他子组相比异常的子组。检验 1 是公认的、用于检测失控情况的必要检验。如果对过程中的较小偏移感兴趣，您可以使用检验 2 来补充检验 1，以便创建一个敏感度更高的控制图。
- Benneyan 检验，连续点数等于 0
- Minitab 将执行 Benneyan 检验以检测事件的高发生率。大多数情况下，G 控制图的控制下限为 0。此外，最小数据值为 0，这意味着无法通过观察哪些点位于控制下限以下，来检测稀有事件的发生率在何时异常偏高。
- Benneyan 检验统计等于 0 的连续标绘点的数量。当 G 控制图上的点未通过 Benneyan 检验时，该点标记为 B。发出 Benneyan 检验信号所需的点数是所需的误警报率和事件概率的函数。误报率基于与检验 1 变元（默认值为 3）相关联的概率。
- 连续 K 点在中心线同一侧
- 检验 2 识别过程缺陷品比率中的偏移。如果对过程中的较小偏移感兴趣，您可以使用检验 2 来补充检验 1，以便创建一个敏感度更高的控制图。
- 连续 K 个点，全部递增或全部递减
- 检验 3 检测趋势。该检验会查找值一致增加或减少的长序列连续点。
- 连续 K 个点，上下交错
- 检验 4 检测系统变异。您希望过程中的变异模式随机，但是未通过检验 4 的点可能表示变异模式是可预测的。
