可使用 U 控制图 监视单位缺陷数（其中每个项目可具有多个缺陷）。 使用此控制图可以监视过程在一段时间内的稳定性，以便您可以标识和更正过程中的不稳定性。
例如，一家 LCD 制造商希望监视 17 英寸 LCD 液晶屏的坏点数。技术人员记录每个屏幕的坏点数。每个子组具有不同数目的屏幕。制造商使用 U 控制图来监视每个屏幕的坏点平均数。
在何处查找此控制图
要创建 U 控制图，请选择。
什么情况下使用备择控制图
- 如果您只能确定每项是否为缺陷品，请使用 P 控制图 或 Laney P' 控制图 来绘制缺陷品的比率，或者使用 NP 控制图 来绘制缺陷品的数量。
- 如果您的数据存在过度离散或欠离散现象，则 Laney U' 控制图 可更加准确地区分常见原因变异和特殊原因变异。过度离散可能导致传统 U 控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致传统 U 控制图显示过少超出控制限的点。Laney U' 控制图可调整这些条件。您可以使用 U 控制图诊断 检验数据是否存在过度离散和欠离散现象。有关更多信息，请转到过度离散和欠离散。
