Laney U' 控制图与传统 U 控制图十分相似。这两种控制图都可监视过程中生产的单位缺陷数。但是,如果您的数据存在过度离散或欠离散现象,Laney U' 控制图可更加准确地区分常见原因变异和特殊原因变异。
过度离散可能导致传统 U 控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致传统 U 控制图显示过少超出控制限的点。Laney U' 控制图可调整这些条件。有关更多信息,请转到过度离散和欠离散。
红点指示至少在一个特殊原因检验中失败且不受控制的子组。如果同一个点在多个检验中失败,则会用最小的检验编号标记该点,以免图形过于拥挤。如果控制图显示了失控点,请调查这些点。有关更多信息,请转到指定用于估计 Laney U' 控制图 的参数的子组。
请分析以下 Laney U' 控制图示例。西格玛 Z 值(约为 5.5)大于 1,这表明 Laney U' 控制图上的控制限比用于调整过度离散的传统 U 控制图上的控制限更宽。子组 23 的缺陷率超出控制范围。当您将指针放在红点上时,可以获得有关子组的更多信息。您应确定可能导致该子组的缺陷率异常高的任何特殊原因。
调查未通过特殊原因检验的任何子组。默认情况下,Minita 仅执行检验 1,即检验位于控制限外部的点。但是,如果您执行额外的检验,点可能无法通过多个检验。输出结果会确切地显示有哪些点未通过每个检验,如此处所示。
这些结果表明子组 23 在检验 1 中失败。
当同时使用多个检验时,控制图的敏感度也会增加。但是,误警报率也会增加,这可能会使您对检验结果做出不必要的反应。
有关每个检验及其使用时间的更多信息,请转到在控制图中使用特殊原因检验。