步骤 1：确定缺陷品比率是否受控制
Laney P' 控制图与传统 P 控制图十分相似。这两种控制图都可监视过程中生产的缺陷品比率。但是，如果您的数据存在过度离散或欠离散现象，Laney P' 控制图可更加准确地区分常见原因变异和特殊原因变异。
过度离散可能导致传统 P 控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致传统 P 控制图显示过少超出控制限的点。Laney P' 控制图可调整这些条件。有关更多信息，请转到过度离散和欠离散。
红点指示至少在一个特殊原因检验中失败且不受控制的子组。如果同一个点在多个检验中失败，则会用最小的检验编号标记该点，以免图形过于拥挤。如果控制图显示了失控点，请调查这些点。
失控点可能会影响过程参数的估计值并防止控制限真正代表您的过程。如果失控点是由特殊原因导致的，请考虑在计算中省略这些点。 有关更多信息，请转到指定用于估计 Laney P' 控制图 的参数的子组。
请分析以下 Laney P' 控制图示例。西格玛 Z 值（约为 2.2）大于 1，这表明 Laney P' 控制图上的控制限比用于调整过度离散的传统 P 控制图上的控制限更宽。 子组 31 的缺陷品比率不受控制。 当您将指针放在红点上时，可以获得有关子组的更多信息。您应确定可能导致该子组缺陷品比率异常高的任何特殊原因。
步骤 2：确定在每个检验中失败的点
调查未通过特殊原因检验的任何子组。默认情况下，Minita 仅执行检验 1，即检验位于控制限外部的点。但是，如果您执行额外的检验，点可能无法通过多个检验。输出结果会确切地显示有哪些点未通过每个检验，如此处所示。
这些结果表明子组 31 在检验 1 中失败。
注意
当同时使用多个检验时，控制图的敏感度也会增加。但是，误警报率也会增加，这可能会使您对检验结果做出不必要的反应。
有关每个检验及其使用时间的更多信息，请转到在控制图中使用特殊原因检验。
