对于每个产品项有多个缺陷的情况，可使用 C 控制图 监视缺陷数。只有当子组大小相同时才应使用 C 控制图。使用此控制图可以监视过程在一段时间内的稳定性，以便您可以标识和更正过程中的不稳定性。
例如，一家 LCD 制造商希望监视 17 英寸 LCD 液晶屏上的缺陷。技术人员以 10 个屏幕为一个子组，记录每小时的坏点数，并使用 C 控制图来监视坏点数量。
此控制图显示，技术人员平均在每个样本中发现 10 个坏点。第 17 个样本不受控制。技术人员应确定导致坏点数量异常大的任何特殊原因。
在何处查找此控制图
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什么情况下使用备择控制图
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如果子组大小不相等，请使用 U 控制图 或 Laney U' 控制图。
- 如果您只能确定每项是否为缺陷品，请使用 P 控制图 或 Laney P' 控制图 来绘制缺陷品的比率，或者使用 NP 控制图 来绘制缺陷品的数量。
- 如果您的数据存在过度离散或欠离散现象，则 Laney U' 控制图 可更加准确地区分常见原因变异和特殊原因变异。过度离散可能导致 C 控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致 C 控制图显示过少超出控制限的点。Laney U' 控制图可调整这些条件。您可以使用 U 控制图诊断 检验数据是否存在过度离散和欠离散现象。有关更多信息，请转到过度离散和欠离散。
