步骤 1：查看S曲线图，判断工艺变化是否受控
在解读验收 Xbar 控制图之前，先查看S 控制图，判断过程变异是否受控。如果 S 控制图不受控，则验收 Xbar 控制图中过程变异的估计值和验收控制限可能不可靠。
S 控制图标绘子组标准差。中心线是所有子组标准差的平均值。S 控制图上的控制限设置在中心线上方和下方距离 3 个标准差的位置，它们显示子组标准差中预期的变异量。
红点表示至少在一个特殊原因检验中失败且不受控制的子组。如果同一个点在多个检验中失败，则会用最小的检验编号标记该点，以免图形过于拥挤。如果控制图显示了失控点，请调查这些点。
失控点可能会影响过程参数的估计值并防止控制限真正代表您的过程。如果失控点是由特殊原因导致的，请考虑在计算中省略这些点。有关详细信息，请转到 指定如何估计 的参数 验收 Xbar-S 控制图。
S 控制图中没有异常变异的迹象，因此工程师可以解读验收 Xbar 控制图。
步骤 2：查看验收 Xbar 控制图，判断流程中的偏移是否可接受
验收 Xbar 控制图绘制了每个子组内测量的平均值。中心线是所有子组平均值的平均值。验收控制限基于规格限制、超出每个规格限制的接受百分比、干预概率、子组规模以及估计的工艺变异。图表显示了较低的验收控制限、上限验收控制限，或两者兼有，具体取决于你输入的规范限制。
红色点表示超出验收控制限的子群平均值。超过验收控制限的点表示工艺均值已向相应的规格限制移动到足够远，导致工艺输出中超出规格限制的接受百分比可能超过。
保持在验收控制限内的过程均值偏移并不表示已超过接受百分比。如果图表显示失控点，请调查该偏移是由其他原因还是现有原因的加剧效果所引起。
失控点可能会影响过程参数的估计值并防止控制限真正代表您的过程。如果失控点是由特殊原因导致的，请考虑在计算中省略这些点。有关详细信息，请转到 指定如何估计 的参数 验收 Xbar-S 控制图。
两个子群平均值在第一次向上移动时高于上验收控制限。这些点表明工艺均值已向上限偏移，导致超过1%的工艺产出可能超过规格限制。
过程均值的其他偏移仍在验收控制限内，并不表示已超过接受百分比。工程师应调查这两个失控子群，以确定偏移是由其他原因还是现有原因的加剧效果所引起。可能的原因包括机器调整、原材料变化、操作员更换或生产批次变换。
步骤 3：识别每项测试未通过的分数
调查任何未通过测试的子群体。在验收 Xbar 控制图中，测试1识别了超出验收控制限的子组均值。在S 控制图中，测试1到测试4检测过程变异中的特殊原因。
如果S 控制图上的某一点在多个测试中失败，图表上只显示一个测试数字。输出中的测试结果会识别出每个点未通过的所有测试。
填充重量偏差 的 Xbar 控制图检验结果
| 测试1。超出验收控制极限一点。 |
|---|
| 检验出下列点不合格: 13, 15 |
注意
当你同时对S 控制图进行多个测试时，表的灵敏度会提高。但是，误警报率也会增加，这可能会使您对检验结果做出不必要的反应。
有关S 控制图上特殊原因测试及使用时间的更多信息，请访问 在控制图中使用特殊原因检验。
