验收 Xbar-S 控制图所有统计和图表

查找验收 Xbar-S 控制图中每个统计量和图表的定义和解释指导。

标绘点

验收 Xbar 控制图上的点代表各子组内测量的平均值。红色点表示超出验收控制限的子群平均值。超过验收控制限的点表示工艺均值已向相应的规格限制移动到足够远,导致工艺输出中超出规格限制的接受百分比可能超过。

S 控制图上的点代表子组的标准差。红色点表示在测试1到4中至少未通过一项的子组。调查这些点是否有特殊原因的差异。

中心线

验收 Xbar 控制图的中心线表示绘制点的平均值(也称为过程均值)。子群意味着不必保持在中心线周围的随机分布。

S 控制图的中心线是所有子组标准差的平均值。利用中心线将每个子组的标准差与典型的亚组内差异进行比较。如果过程变化受控,则点会围绕中心线随机变化。

警告

请勿将中心线与过程的目标值相混淆。目标是所希望的结果。中心线是实际结果。

控制限

验收 Xbar 控制图中的验收控制限表明,当工艺均值向规格限制移动到足够明显,导致工艺产出中超出规格限制的接受百分比可能被超过时。这些限制基于规格限制、超出规定范围的接受百分比、干预概率、子组规模以及估计的亚组内变异。

验收Xbar表显示了较低的验收控制限、上限验收控制限,或两者兼有,具体取决于你输入的规范限制。验收控制限不一定与中心线的距离相同。

S 控制图上的控制限制显示了子组标准差预期的变异程度。如果过程变异受控,则点在控制范围内随机变化。

警告

不要将验收控制限与规格极限混淆。规格限制定义了单个工艺输出的可接受值。验收控制限适用于子组均值,并指示何时需要调查过程均值的偏移。

特殊原因检验

验收 Xbar 控制图

只有检验1适用于验收 Xbar 控制图。检验1识别超出验收控制限的子组均值。这些点表明过程均值已向相应的规格限值方向偏移到足够远,规格限值外过程输出的百分比可能超过接受百分比。

S控制图

测试1到4适用于S 控制图。利用这些检测识别亚组标准差中的具体模式,这些模式可能表明特殊原因的变异。

检验 1: 距离中心线多一点多3σ
检验1识别与其他子组标准差不同的子组标准差。如果对工艺变化的微小变化感兴趣,可以用测试2补充测试1以提高图表的灵敏度。
检验 2: 同一侧中心线连续九个点
检验 2 会标识过程变异中的偏移。
检验 3: 行内连续 6 点,全部递增或全部递减(S)
检验 3 检测趋势。该检验寻找连续且持续增加或减少的连续点。
检验 4: 行内连续 14 点上下交错(F)
检验 4 检测系统变异。未通过测试4的点可能表明变异模式是可预测的。
注意

当你同时对S 控制图进行多个测试时,表的灵敏度会提高。但是,误警报率也会增加,这可能会使您对检验结果做出不必要的反应。

标准差

标准差表示子组内测量之间的差异。它不包括由子群间过程均值变化引起的变异。数值越小表示每个子组内的测量更为一致。

Minitab 使用标准差、规格限制、超出每个规格限制的接受百分比、干预概率和子组规模,计算验收 Xbar 控制图上的验收控制限。Minitab在图表上不会显示标准差。

要在工作表中存储标准差,请在 存储 “选项”对话框的标签页中选择它。

阶段

使用阶段可以创建显示过程在特定时间段内变化情况的历史控制图。默认情况下,Minitab 会为每个阶段重新计算中心线和控制限。有关更多信息,请转到添加阶段以显示过程的变化。

解释

此历史控制图显示过程的三个阶段,分别表示实施新过程之前、之中和之后。