组间/组内能力分析 的组间/组内 (B/W) 能力

解释

可使用 Cp 评估您过程的组内/组间能力。组间/组内能力表示在消除导致子组间/内变异以及整体过程变异的系统根源后，您的过程能够实现的能力。

由于 Cp 不考虑过程的位置，因此它表明在过程处于中心位置的情况下过程可以获得的能力。总体上讲，Cp 值越高，过程的能力越大。Cp 值低，表明需要改进过程。

警告

由于 CP 指数不考虑过程的位置，它并不表示过程与规格限所限定的目标区域的接近程度。例如，以下图形显示了两个具有相同 Cp 值的过程，但其中一个过程在规格限内，而另一个则没有。

Cp = 3.13

Cp = 3.13

要进行完整的准确分析，请结合其他能力指数（如 Cpk）使用这些图形，以便根据数据得出有意义的结论。

解释

可使用 CPL 相对于规格下限评估过程的组内/组间能力。组间/组内功能表示在消除导致子组间/内变异以及过程变异的系统根源后，您的过程能够实现的功能。

总体上讲，CPL 值越高，表示过程在其分布下侧尾部的能力越高。Cpk 值低表明可能需要改进过程。

解释

可使用 CPU 相对于规格上限评估您过程的组内/组间能力。组间/组内功能表示在消除导致子组间/内变异以及过程变异的系统根源后，您的过程能够实现的功能。

解释

使用 CPK 评估组间/组内能力，同时考虑其位置和展开。组间/组内能力表示在消除导致子组间/内变异以及整体过程变异的系统根源后，您的过程能够实现的能力。

总体上讲，Cpk 值越高，过程的能力越高。Cpk 值低表明可能需要改进过程。

警告

Cpk 指数只表示过程曲线的一侧，而不度量过程曲线另一侧的过程执行情况。

例如，下面几个图形显示两个具有相同 Cpk 值的过程。但是，一个过程同时违反了两个规格限，另一个过程只违反了规格上限。

Cpk = min {CPL = 4.58, CPU = .93} = .93

Cpk = CPL = CPU = .93

如果过程中具有同时超出两个规格限的不合格部件，可考虑使用其他指数（如基准 Z 值），以便更加完整地评估过程的能力。

解释

由于数据样本是随机的，因此从过程收集的不同样本不可能生成相同的能力指数估计值。要计算过程能力指数的实际值，您将需要分析由过程生成的所有项数据，而这是不可行的。您可以改为使用置信区间来确定能力指数值的可能范围。

在 95% 置信水平下，您可以 95% 地确信能力指数的实际值包含在置信区间内。也就是说，如果您从过程中收集 100 个随机样本，则可以预计 95 个样本生成的区间中包含能力指数的实际值。

置信区间有助于评估样本估计值的实际意义。如果可能，基于过程知识或行业标准将置信界限与基准值进行比较。

例如，一家公司对 Ppk 使用最低基准值 1.33 定义有能力的过程。通过使用能力分析，该公司获得 Ppk 估计值 1.46，这表明该过程有能力。要进一步评估此估计值，该公司显示 Ppk 的 95％ 置信下限。如果 95％ 置信下限大于 1.33，则该公司可以非常自信地认为该过程有能力，即使考虑到将影响估计值的随机抽样变异也是如此。

解释

可使用 Z.LSL（组间/组内）评估过程相对于其规格下限的组间/组内西格玛能力。

总体上讲，Z.LSL 值越高，表示过程在其分布下侧尾部的能力越高。值低表明可能需要改进过程。如果可能，基于过程知识或行业标准将 Z.LSL 值（组间/组内）与基准值进行比较。如果 Z.LSL 值低于您的基准值，则考虑如何改进过程。

解释

可使用 Z.USL（组间/组内）评估过程相对于其规格上限的组间/组内西格玛能力。

总体上讲，Z.USL 值越高，表示过程在其分布上侧尾部的能力越高。值低表明可能需要改进过程。如果可能，基于过程知识或行业标准将 Z.USL 值（组间/组内）与基准值进行比较。如果 Z.USL 值低于您的基准值，则考虑如何改进过程。

解释

可使用基准 Z 值（组间/组内）评估过程的组间/组内西格玛能力。

总体上讲，基准 Z 值（组间/组内）越高，过程的能力越高。值低表明可能需要改进过程。如果可能，基于过程知识或行业标准将基准 Z 值（组间/组内）与基准值进行比较。如果基准 Z 值（组间/组内）低于您的基准值，则考虑如何改进过程。