一位工程师想评估为大型纸卷包一层薄膜这一过程的能力。这位工程师从 25 个连续加工的纸卷中收集了三个涂层厚度测量值。对于每个新的纸卷，都要重置机器，因此工程师除了需要考虑纸卷内的变异之外，还需要考虑各个纸卷之间的变异。薄膜厚度必须为 50 ± 3 微米才能满足工程规格。
工程师执行了组间/组内能力分析，以评估此薄膜厚度是否满足客户要求 50 ± 3 微米。
- 打开样本数据膜厚度.MTW.
- 选择。
- 在单列中，输入涂覆。
- 在子组大小中，输入滚动。
- 在规格下限中，输入 47。
- 在规格上限中，输入 53。
- 单击选项。
- 在目标（将 Cpm 添加到表格）中，输入 50。
- 单击每个对话框中的确定。
解释结果
过程几乎位于目标中心，所有观测到的测量值都在规格限之内。对于组间/组内能力，Cp 是 1.26，这表明过程中的规格展开是过程中 6-σ 展开的 1.26 倍以上。Cp 和 Cpk 彼此非常接近，这表明过程大致位于中心位置。对于整体能力，Pp、Ppk 和 Cpm 彼此非常接近，这表明过程在中心而且在目标上。但是，Ppk 稍小于 1.33，这通常是有能力的过程可接受的最小值。工程师判定过程几乎有能力涂覆符合规格的涂层；但是它的能力有待改善。
