使用 a Wafer 图 比较使用颜色渐变来表示响应变量变化的均值或其他汇总统计量。

例如,半导体制造商使用晶圆图来检查芯片上每个 X 和 Y 坐标的缺陷。

在何处查找此图形

要创建晶圆图,请选择 (图形 > 图形生成器),然后从图形列表中进行选择 Wafer 图