使用 a Wafer 图 比较使用颜色渐变来表示响应变量变化的均值或其他汇总统计量。
例如,半导体制造商使用晶圆图来检查芯片上每个 X 和 Y 坐标的缺陷。
要创建晶圆图,请选择 (图形 > 图形生成器),然后从图形列表中进行选择 Wafer 图 。
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