类型 1 量具研究的方法和公式

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参考书

参考值 Xm 用作研究中的一个对比点。一般情况下,参考值是通过对使用实验室校准的测量设备获取的多个参考部件测量值取平均值获得的。

理想情况下,Xm 接近于所测量特征的公差区域的中心。

均值

部件测量值的均值通过以下算式计算得出:

表示法

说明
Xi第 i 个部件的测量值
n测量值的个数

标准差

部件测量值的标准差通过以下公式计算得出:

表示法

说明
n 个测量值的均值
Xiith 部件的测量值
n测量值的个数

研究变异 (SV)

研究变异通过以下公式计算得出:

表示法

说明
k1

Minitab 使用来自标准正态分布的 6 个标准差的默认值表示 99.73% 的测量值。

要更改此值,请查看选项子对话框。例如,使用乘数 5.15 表示 99% 的测量值。

S测量值的标准差

公差

公差是为每个分量指定的。必须输入公差或其中一个规格限制。

公差 = USL – LSL 或 USL – 0(如果使用自然零代替 LSL)。

表示法

说明
USL规格上限
LSL规格下限

分辨度

分辨率是指定的量具分辨率。

作为一项准则,分辨率不应大于公差的 5%。因此,如果同时指定分辨率和公差,则 Minitab 将计算分辨率是小于、大于还是等于公差的 5%。

偏倚

量具偏倚通过 n 个测量值的均值和参考值之间的差异计算得出。

表示法

说明
n 个测量值的均值
Xm参考测量值

T

是用于检验偏倚 = 0 的原假设对比偏倚 ≠ 0 的备择假设的 t 统计量。

t 遵循自由度为 Y 的 t 分布,其中 γ = n – 1。

表示法

说明
n测量值的个数
n 个测量值的均值
Xm参考测量值
S测量值的标准差

p 值

p 值与 t 统计量相关联。是假定偏倚为零的情况下,t 统计量等于或大于计算得到的 t 统计量的概率。t 统计量增加时,p 值减小。p 值越小,反对偏倚 = 0 的原假设的证据越充足。

Cg

仅当指定量具公差时才计算能力指数。量具的能力通过以下公式进行计算:

表示法

说明
K选项子对话框中指定的用于计算 Cg 的公差百分比,默认值为 20
SV研究变异值

CgK

仅当指定公差范围时才计算能力指数。考虑量具变异和偏倚的情况下,量具的能力通过以下公式计算得出:

表示法

说明
K选项子对话框中指定的用于计算 Cg 的公差百分比,默认值为 20
n 个测量值的均值
Xm参考测量值
SV研究变异值

%变异(重复性)

重复性与带有公差的量具重复性进行比较的变异百分比。变异百分比通过研究变异除以公差然后乘以 100 计算得出。

表示法

说明
K在“选项”子对话框中指定的用于计算 Cg 的公差百分比,默认值为 20
SV研究变异值

%变异(重复性和偏倚)

重复性和偏倚与带有公差的量具重复性和偏倚进行比较的变异百分比。

表示法

说明
K在“选项”子对话框中指定的用于计算 Cg 的公差百分比,默认值为 20
n 个测量值的均值
Xm参考测量值
SV研究变异值
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