可使用 P 控制图诊断 检验缺陷品数据中的过度离散或欠离散现象。 缺陷品有一个或多个使其不可接受的缺陷。 过度离散可能导致传统 P 控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致传统 P 控制图显示过少超出控制限的点。Laney P' 控制图可调整这些条件。

例如,医院放射科希望跟踪由于成像误差导致的需进行重新检验的患者比率。由于患者数量很大,放射科使用 P 控制图诊断检验来检查数据中的过度离散。观测到的变异与预期变异的比值为 175.7%。此值表明存在过度离散,因为它大于置信上限 136.6%。部门应使用 Laney P' 控制图而非传统 P 控制图来跟踪缺陷品比率。

在何处查找此分析

要执行 P 控制图诊断检验,请选择统计 > 控制图 > 属性控制图 > P 控制图诊断

何时使用备择检验

缺陷品有一个或多个使其不可接受的缺陷。如果您只能确定某项是否为缺陷品,请使用此检验。如果可以统计每项的缺陷数,请使用 U 控制图诊断

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