正态能力分析 的预期组内性能

对于随正态能力分析提供的每个预期组内性能度量,查找定义和解释指导。

预期组内性能的 PPM < LSL

针对预期组内性能的 PPM < LSL 是其测量值低于规格下限 (LSL) 的部件的预期百万分数。预期组内性能值是通过使用子组内变异计算的。针对预期组内性能的 PPM < LSL 等于 1,000,000 乘以从子组内过程分布中随机选择的部件的测量值小于 LSL 的几率。
随机选择的部件小于 LSL 的几率由子组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组内性能的“PPM < LSL”来估计基于子组内变异预期低于规格下限的不合格品的数目(以百万分数表示)。组内性能值表示在消除过程偏移和漂移后能够实现的过程潜在性能。

较低的 PPM < LSL 值表示更高的过程能力(相对于规格下限)。在理想情况下,很少或无任何部件具有小于规格下限的测量值。

预期组内性能的 PPM > USL

针对预期组内性能的 PPM > USL 是其测量值大于规格上限 (USL) 的预期百万分数。预期组内性能值是通过使用子组内变异计算的。针对预期组内性能的 PPM > USL 等于 1,000,000 乘以从子组间/组内过程分布中随机选择的部件的测量值大于 USL 的几率。
随机选择的部件高于 USL 的几率由组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组内性能的“PPM > USL”来估计基于子组内变异预期高于规格上限的不合格品的数目(以百万分数表示)。组内性能值表示在消除过程偏移和漂移后能够实现的过程潜在性能。

较低的 PPM > USL 值表示较高的过程能力(相对于规格上限)。在理想情况下,很少或无任何部件具有大于规格上限的测量值。

预期“组内”性能的合计 PPM

针对预期组内性能的合计 PPM 是其测量值超出规格限的部件的预期百万分数 (PPM)。预期预期组内性能值是通过使用子组内变异计算的。针对预期组内性能的合计 PPM 等于 1,000,000 乘以从子组内过程分布中随机选择的部件的测量值超出规格限的几率。
随机选择的部件超出规格限的几率由子组内正态曲线下的阴影区域显示。随机选择的部件超出规格限的几率由子组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组内性能的“合计 PPM”来估计基于子组内变异预期处于规格限外的不合格品的数目(以百万分数表示)。组内性能值表示在消除过程偏移和漂移后能够实现的过程潜在性能。

较低的合计 PPM 值表示更高的过程能力。在理想情况下,很少或无任何部件具有位于规格限外的测量值。

您还可以使用 PPM 来估计过程中的合格部件和不合格部件的百分比。
PPM 不合格部件 % 合格部件 %
66807 6.807% 93.193%
6210 0.621% 99.379%
233 0.0233% 99.9767%
3.4 0.00034% 99.99966%

预期组内性能的 % < LSL

针对预期组内性能的 % < LSL 是其测量值低于规格下限 (LSL) 的部件的预期百分比。预期组内性能值是通过使用子组内变异计算的。针对预期组内性能的 % < LSL 是从子组内过程分布中随机选择的部件的测量值小于 LSL 的几率。 % < LSL for expected within performance is the expected percentage of parts that have measurements that are less than the lower specification limit (LSL). Expected within performance values are calculated using the within-subgroup standard deviation. % < LSL for expected within performance is the probability that the measurement of a randomly selected part from the within-subgroup process distribution is less than LSL.
随机选择的部件小于 LSL 的几率由子组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组内性能的“% < LSL”来估计基于子组内变异预期低于规格下限的不合格品的百分比。组内性能值表示在消除过程偏移和漂移后能够实现的过程潜在性能。

较低的 % < LSL 值表示更高的过程能力(相对于规格下限)。在理想情况下,很少或无任何部件具有小于规格下限的测量值。

预期组内性能的 % > USL

针对预期组间/组内性能的 % > USL 是其测量值高于规格上限 (USL) 的部件的预期百分比。预期组内性能值是通过使用子组内变异计算的。针对预期组内性能的% > USL 是从子组内过程分布中随机选择的部件的测量值高于 USL 的几率。
随机选择的部件高于 USL 的几率由组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组内性能的“% > USL”来估计基于子组内变异预期高于规格上限的不合格品的百分比。组内性能值表示在消除过程偏移和漂移后能够实现的过程潜在性能。

较低的 % > USL 值表示较高的过程能力(相对于规格上限)。在理想情况下,很少或无任何部件具有大于规格上限的测量值。

预期组内性能的合计 %

针对预期组内性能的合计 % 是其测量值超出规格限的预期百分比。预期组内性能值是通过使用子组内变异计算的。针对预期组内性能的合计 % 是从子组内过程分布中随机选择的部件的测量值超出规格限的几率。
随机选择的部件超出规格限的几率由子组内正态曲线下的阴影区域显示。随机选择的部件超出规格限的几率由子组内正态曲线下的阴影区域显示。

解释

可使用预期组内性能的“合计 %”来估计基于子组内变异预期处于规格限外的不合格品的数目(以百万分数表示)。组内性能值表示在消除过程偏移和漂移后能够实现的过程潜在性能。

较低的合计 % 值表示较高的过程能力。在理想情况下,很少或无任何部件具有位于规格限外的测量值。

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