使用加速寿命检验可以对极端应力水平下的产品性能(通常是失效时间)建模并推断正常使用条件下的结果。

加速寿命检验的目的是加速失效过程以便及时获取有关寿命较长产品的信息。加速方法包括在极端温度、电压、压力等条件下执行的检验。

例如,在正常条件下,微芯片可能在数年内不失效。但是,在高温条件下,相同的微芯片可能在数小时内就会失效。使用加速寿命检验,您可以使用微芯片在高温下的失效时间信息来预测正常操作条件下可能出现失效的时间。

加速寿命检验评估失效时间与至少一个加速变量之间的关系。使用此检验可以回答以下这类问题:
  • 预计高可靠的组件何时失效?
  • 因子对产品寿命有何影响?
  • 哪些因子设置将最大化产品的寿命?

在何处查找此分析

要执行加速寿命检验,请选择统计 > 可靠性/生存 > 加速寿命试验

何时使用备择分析

如果您的响应数据是二元数据(仅包含两个可能的结果),而不是失效时间(或其他单元)的连续测量数据,请使用概率分析

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