电子设备漏电数据

某可靠性工程师想要研究电子设备的晶体管之间的漏电情况。当漏电达到某个阈值时,电子设备会失效。为了加快检验的失效速度,检验设备的温度比正常温度高得多。每两天检查设备的失效情况。

您可以使用此数据展示 加速寿命检验。Arrhenius 温度和失效之间的关系是线性关系。

工作表列 说明
开始时间 检验区间的起始时间(天)。
结束时间 检验区间的结束时间(天)。每 2 天就对设备进行检查。
计数 在检验区间的开始时间结束时间之间失效的设备数。
温度 设备所处的温度:
新温度 温度可用于预测。55oC 是设计温度,85oC 是最坏情况温度。

第 1 行表示任何暴露在 125oC 下的设备在从检验开始到第 2 天的第一次检查的区间内都没有失效。第 8 行表示暴露在 125oC 下的 46 台设备在从第 14 天到第 16 天检验结束的区间内仍然可以正常运行。

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