可用 SPC 工具

Minitab Connect 提供多种控制图表和能力分析，帮助您监控流程。根据你拥有的是连续数据还是属性数据，选择使用哪种控制图或能力分析。

关于本主题

连续控制图
属性控制图表
连续能力分析
属性能力分析

连续控制图

连续控制图按时间顺序绘制测量过程数据，如长度或压力。相比而言，属性控制图标绘计数数据，如缺陷或缺陷单位数。你可以为子组或单个测量收集的数据创建连续控制图表。

I-MR: 当你拥有连续且为单独观察数据而非子组时，使用 I-MR 图表来监控过程的平均值和变异。
Xbar-R: 当你拥有连续数据和8个或更小的子组规模时，使用 Xbar-R 图表来监测过程的平均值和变异。
Xbar-S: 当你拥有连续数据和9个或以上的子组规模时，使用 Xbar-S 图表来监测过程的平均值和变异。
I-MR-R/S: 使用 I-MR-R/S 图表来监测你的流程平均值，以及当每个子组是不同部分或批次时，子组之间和内部的差异。

属性控制图表

属性控制图绘制不合规（缺陷）或不符合的单元（缺陷）。不符合性指某个质量特征，不合格单元指整个产品。一个单元可能具有许多不符合性，但单元本身或者是合格单元，或者是不合格单元。例如，金属面板上的划痕就是一个不符合性。如果存在多个划痕，则整个面板可能被视为一个不合格单元。根据数据是否代表缺陷计数并遵循二项分布，或数据代表缺陷计数并遵循泊松分布来选择属性控制图表。

P 控制图: 可使用 P 控制图监视缺陷品比率（每个产品项都划分为两个类别中的一类，例如成功或失败）。
NP 控制图: 可使用 NP 控制图监视缺陷品数量（每个产品项都划分为两个类别中的一类，例如成功或失败）。
U 控制图: 使用 a U 控制图可监控每件商品的缺陷数，其中每件商品可以有多个缺陷。
C 控制图: 使用 a C 控制图可监控每个项目可以有多个缺陷的缺陷数。仅当子组大小相同时，才应使用 C 控制图。
Laney P': 使用 a Laney P' （P' 发音为 P prime）可以监控过程产生的缺陷品的比例，并针对数据中的过度离散或欠离散进行调整。
过度离散可能导致传统 P 控制图显示数量增加的超出控制限的点。欠离散可能导致传统 P 控制图显示过少超出控制限的点。Laney P' 控制图可调整这些条件。
Laney U': 使用 Laney U' 图表（U'发音为U素数）来监测工艺的缺陷率，并调整数据中的过度或不足离散。
过度离散可能导致传统的U形图显示控制范围外的点数增加。离散不足可能导致传统的U形图显示控制极限外的点太少。Laney U'图表会根据这些条件进行调整。

连续能力分析

Minitab Connect 提供正常及能力间/能力内的连续数据分析。

正态能力分析: 用于正态能力分析根据正态分布评估过程的潜在（内部）能力和整体能力。
组间/组内能力分析: 根据正态分布，组间/组内能力分析使用评估您的过程（如批量过程）在自然产生子组间系统性变异时的能力。
能力指数: 用于能力指数显示PPK和CPK的数值。

属性能力分析

Minitab Connect 为属性数据提供二项式和泊松能力分析。如果你可以选择收集连续数据或属性数据，尽量收集连续数据，因为它们通常能提供更多信息且更客观。属性数据更容易收集，因此常用于难以获得连续测量时。

二项能力分析: 二项能力分析使用确定缺陷品百分比是否符合客户的要求。当每个产品项都划分为两个类别中的一类（例如通过或未通过）时使用。
Poisson 能力分析: Poisson 能力分析使用确定单位缺陷率 (DPU) 是否符合客户的要求。在计算每个产品项的缺陷数时使用此分析，而每个产品项可能都具有多个缺陷。