Se você já tem um produto configurado manualmente, pode adicionar um ID externo para que possa atualizar facilmente com configurações automatizadas.
Para adicionar novos ou modificar IDs externos existentes, você deve ter a seguinte permissão: Editar IDs externos. Abra o Portal da administração, e depois abra a Funções página para adicionar essa permissão ao seu cargo. Para obter mais informações, vá para Papéis e permissões dos usuários.
Apenas os Produto IDs , Processo, Estação, e Plano de amostragem externos podem ser modificados. Medida e Descritor IDs externos são somente leitura.
Mudar IDs externos não é recomendado porque configurações automatizadas dependem deles. Se você mudar um ID externo, certifique-se de que todas as configurações afetadas estejam atualizadas adequadamente para evitar problemas de configuração.
Descritores são variáveis categóricas que identificam observações individuais ou subgrupos. Por exemplo, sua empresa pode coletar números de lote de fornecedores, identificadores de turno e identificadores de dispositivos de medição. Você pode adicionar marcadores de descrição aos gráficos de controle para cada processo de produto.
Para criar um novo plano de amostragem, seu processo deve ter pelo menos uma medida. Você não pode criar um novo plano de amostragem apenas com variáveis descritoras.
Você pode adicionar planos de amostragem a Medidas do Processo, Medidas de Saída, Medidas defeituosas, Defeituosos agrupados, Defeituosos agrupados, e Descritores configurações.
Para defeitos agrupados e deficientes agrupados, todos Adicionar ao plano de amostragem os valores devem ser Yes ou todos devem ser No. Valores inconsistentes são substituídos pelo valor padrão de Yes.
Para adicionar defeitos agrupados e deficientes agrupados a um formulário de coleta de dados, Adicionar ao plano de amostragem valores devem ser Yes e Habilitar no Processo do Produto valores devem ser Yes.
O tipo disponível de tabela de controle depende do tipo de medida.
Para cartas de controle contínuas, Tipo é opcional em Medidas do Processo e Medidas de Saída configurações.
Opções válidas de tipo gráfico de controle contínuo são: imr, xbarr, xbars, imrrs, . ewma Se não especificado, ou se for uma entrada inválida, os padrões do gráfico de controle são usados, baseados no tamanho do subgrupo.
Para gráficos de controle de defeitos, Tipo é opcional nas Defeituosos agrupados configurações.
Opções válidas de tipo são: c, u, uprime.
Se não especificado, ou se for uma entrada inválida, o padrão de c é usado.
Para mapas de controle deficientes, Tipo é opcional em Medidas defeituosas e Defeituosos agrupados configurações.
Opções válidas de tipo são: np, p, pprime.
Se não especificado, ou se for uma entrada inválida, o padrão de np é usado.
Especificar o método para cálculos de limites de controle é opcional. A menos que todos os parâmetros sejam especificados, os limites de controle são calculados com dados recentes.
Se algum parâmetro for nulo, todos os outros parâmetros especificados são ignorados. Se o tamanho do subgrupo não for fornecido, ele é padrão 1.
Tipos de gráficos de imr, xbarr, xbars, e ewma requerem tanto Média e Desvio Padrão para limites de controle fixos.
Tipos de imrrs gráficos requerem Média, Desvio padrão (entre subgrupos), e Desvio padrão (dentro de subgrupos) para limites de controle fixos.
Gráficos de tipos de c, u, e uprime requerem Defeitos Médios para limites de controle fixos. Uprime Cartas também exigem Z de Sigma.
Tipos de gráficos de np, p, e pprime requerem Proporção de Defeituosos para limites de controle fixos. Pprime Cartas também exigem Z de Sigma.
Especificar limites de conteúdo líquido é opcional em Medidas de Saída e Medidas do Processo configurações.
Limitar tipo = Net Content Limits
Se você especificar erro tolerável 1 ou erro tolerável 2, então deve especificar ambos.
Você pode especificar a quantidade de dados a usar para os cálculos iniciais do limite de controle.
Especificar o número padrão de observações/subgrupos para cálculos de limites de controle é opcional em Medidas do Processo, Medidas de Saída, Medidas defeituosas, Defeituosos agrupados, e Defeituosos agrupados configurações.
Especificar limites de especificação é opcional em Medidas do Processo, Medidas de Saída, Medidas defeituosas, Defeituosos agrupados, e Defeituosos agrupados configurações.
Limitar tipo = Specification Limits
Configurações de defeitos e defeitos possuem apenas especificações superiores, não inferiores.
Apenas valores numéricos, UAL > LAL.
Especificar tamanhos padrão de subgrupos para planos de amostragem é opcional em Medidas do Processo, Medidas de Saída, Medidas defeituosas, Defeituosos agrupados, e Defeituosos agrupados configurações.
Os valores-alvo são opcionais. Se você digitar um valor-alvo, Real-Time SPC calcula o Cpm, um índice de capacidade que considera o quanto os dados se desviam do alvo.
Opcional em Medidas do Processo, Medidas de Saída, Medidas defeituosas, Defeituosos agrupados, e Defeituosos agrupados configurações.
Os valores de peso são opcionais nos gráficos de controle EWMA.
Medidas do Processo e Medidas de Saída configurações, quando os Tipo gráficos de controle são definidos para ewma.
Os valores de peso devem ser valores numéricos entre ou igual a 0 e 1.
Se os Tipo gráficos de controle não estiverem configurados para ewma, o peso é ignorado. O tamanho do subgrupo é necessário e será definido como 1, caso falte.